Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi

Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi

This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution dete...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2018
Hauptverfasser: Gritcov, S. S., Sorokin, G. F., Shestacova, T. V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2018
Schlagworte:
динамічні одиночні несправності
псевдокільцеве тестування
ітеративність
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2018.5-6.03
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
id oai:tkea.com.ua:article-135
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-1352025-05-30T19:26:52Z Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi Gritcov, S. S. Sorokin, G. F. Shestacova, T. V. dynamic single faults pseudo-ring testing iteration динамічні одиночні несправності псевдокільцеве тестування ітеративність This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30-60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests. Представлено одиничні динамічні несправності цифрової пам’яті та методи їх виявлення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнівне читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF).Існують різні методики виявлення даних несправностей. Найбільш популярною методикою є маршові тести, оскільки таким тестам властива лінійна алгоритмічна складність, яка визначає число операцій, що проводяться над кожною коміркою пам’яті в процесі тестування. Дана особливість визначає мінімальний час виконання тесту.Альтернативою маршовим тестам є псевдокільцеві тести. Їхньою перевагою над іншими існуючими методами тестування є низька апаратна складність. Псевдокільцеві тести мають лінійно алгоритмічну складність. Вони непогано досліджені відносно класичної однобітної пам’яті, але що стосується словоорієнтованої пам’яті, тут дослідження псевдокільцевого тестування практично відсутні.Розглядаються псевдокільцеві тести щодо одиничних динамічних несправностей на прикладі чотирьохбітної пам’яті. Представлена загальна ідея iтеративного псевдокільцевого тестування. Детально розглянуто принцип виявлення dRDF, dDRDF і dIRF, а також представлено здатність псевдокільцевих тестів виявляти дані несправності.Показано, що псевдокільцеві тести мають не гіршу здатність виявляти вказані несправності, ніж маршові. З результатів роботи видно, що псевдокільцеві тести з алгоритмічною складністю (30—60)N, де N — кількість всіх осередків пам’яті, дозволяють покрити від 75 до 100% всіх одиничних динамічних несправностей, що вказує на можливість їхнього використання як альтернативи існуючим тестам. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2018-12-28 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2018.5-6.03 10.15222/TKEA2018.5-6.03 Technology and design in electronic equipment; No. 5–6 (2018): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 3-9 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5–6 (2018): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 3-9 3083-6549 3083-6530 10.15222/TKEA2018.5-6 en https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2018.5-6.03/124 Copyright (c) 2018 Gritcov S. S., Sorokin G. F., Shestacova T. V. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date 2025-05-30T19:26:52Z
collection OJS
language English
topic динамічні одиночні несправності
псевдокільцеве тестування
ітеративність
spellingShingle динамічні одиночні несправності
псевдокільцеве тестування
ітеративність
Gritcov, S. S.
Sorokin, G. F.
Shestacova, T. V.
Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
topic_facet dynamic single faults
pseudo-ring testing
iteration
динамічні одиночні несправності
псевдокільцеве тестування
ітеративність
format Article
author Gritcov, S. S.
Sorokin, G. F.
Shestacova, T. V.
author_facet Gritcov, S. S.
Sorokin, G. F.
Shestacova, T. V.
author_sort Gritcov, S. S.
title Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
title_short Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
title_full Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
title_fullStr Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
title_full_unstemmed Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
title_sort здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
title_alt Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
description This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30-60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests.
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate 2018
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2018.5-6.03
work_keys_str_mv AT gritcovss pseudoringtestsresolutionfordynamicsinglefaultsinwordorientedmemory
AT sorokingf pseudoringtestsresolutionfordynamicsinglefaultsinwordorientedmemory
AT shestacovatv pseudoringtestsresolutionfordynamicsinglefaultsinwordorientedmemory
AT gritcovss zdatnistʹpsevdokilʹcevihtestivviâvlâtidinamičniodinočninespravnostiuslovooriêntovanijpamâti
AT sorokingf zdatnistʹpsevdokilʹcevihtestivviâvlâtidinamičniodinočninespravnostiuslovooriêntovanijpamâti
AT shestacovatv zdatnistʹpsevdokilʹcevihtestivviâvlâtidinamičniodinočninespravnostiuslovooriêntovanijpamâti
first_indexed 2025-09-24T17:30:26Z
last_indexed 2025-09-24T17:30:26Z
_version_ 1850410213469847552

Ähnliche Einträge