СВІС для мікроелектронного координатно-чутливого детектора нового покоління з розширеним полем аналізу для мас-спектрометрії

• Дата: 2018
• Автори: Sidorenko, V. P., Radkevich, O. I., Prokofiev, Yu. V., Tayakin, Yu. V., Virozub, T. M.
• Формат: Стаття
• Мова: Ukrainian
• Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2018
• Теми: СВІС; мікроелектронний координатно-чутливий детектор; мас-спектрометрія; КМОН-технологія; швидкодія мікросхеми
• Онлайн доступ: https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2018.1.13
• Назва журналу: Technology and design in electronic equipment

The authors have developed a custom VLSI chip for the new generation of MCSD devices - multichip detectors with an extended analysis field and higher technical characteristics, which can be used in elemental analysis devices to simultaneously determine the elements that make up the material with hig...