Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
The authors consider problems of determination of reliability parameters for designs of radio engineering devices (RED) under the influence of mechanical and thermal (external and internal) factors. Mechanical factors (linear acceleration, vibration, impact) cause mechanical effect on the outputs of...
Saved in:
| Date: | 2015 |
|---|---|
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2015
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2015.5-6.03 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| id |
oai:tkea.com.ua:article-257 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:tkea.com.ua:article-2572025-05-30T19:32:05Z Optimization of complex reliability indicator of wireless devices by changing their topology Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии Uvarov, B. M. Zin'kovs'kii, Yu. F. wireless devices mechanical stress thermal regime parametric optimization reliability software радиотехническое устройство механические воздействия тепловой режим параметрическая оптимизация надежность, компьютерные программы The authors consider problems of determination of reliability parameters for designs of radio engineering devices (RED) under the influence of mechanical and thermal (external and internal) factors. Mechanical factors (linear acceleration, vibration, impact) cause mechanical effect on the outputs of elements of electronic structure (EES) and soldered connections, which can result in decrease of reliability. External thermal effects and internal heat release in the elements of the electronic structure of radioelectronic devices raises the temperature of these elements, thereby reducing the reliability not only of the elements, but of the device as a whole. The paper presents the methods for determination of versatility indicators of reliability depending on mechanical and thermal effects on REDs. Optimization of configuration of the cell (topology) using computer programs allows reducing mechanical and thermal effect on the outputs of EESs and to obtain maximum parameters of reliability of a design. The optimum topology of a cell obtained by such program is illustrated. As a result of optimization, reliability of cells has increased. Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значений показателей надежности с помощью топологической оптимизации конструкции. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2015-12-25 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2015.5-6.03 10.15222/TKEA2015.5-6.03 Technology and design in electronic equipment; No. 5–6 (2015): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 3-8 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5–6 (2015): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 3-8 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2015.5-6.03/225 Copyright (c) 2015 Uvarov B. M., Zin'kovs'kii Yu. F. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| institution |
Technology and design in electronic equipment |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2025-05-30T19:32:05Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
радиотехническое устройство механические воздействия тепловой режим параметрическая оптимизация надежность компьютерные программы |
| spellingShingle |
радиотехническое устройство механические воздействия тепловой режим параметрическая оптимизация надежность компьютерные программы Uvarov, B. M. Zin'kovs'kii, Yu. F. Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| topic_facet |
wireless devices mechanical stress thermal regime parametric optimization reliability software радиотехническое устройство механические воздействия тепловой режим параметрическая оптимизация надежность компьютерные программы |
| format |
Article |
| author |
Uvarov, B. M. Zin'kovs'kii, Yu. F. |
| author_facet |
Uvarov, B. M. Zin'kovs'kii, Yu. F. |
| author_sort |
Uvarov, B. M. |
| title |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_short |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_full |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_fullStr |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_full_unstemmed |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_sort |
оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_alt |
Optimization of complex reliability indicator of wireless devices by changing their topology |
| description |
The authors consider problems of determination of reliability parameters for designs of radio engineering devices (RED) under the influence of mechanical and thermal (external and internal) factors. Mechanical factors (linear acceleration, vibration, impact) cause mechanical effect on the outputs of elements of electronic structure (EES) and soldered connections, which can result in decrease of reliability. External thermal effects and internal heat release in the elements of the electronic structure of radioelectronic devices raises the temperature of these elements, thereby reducing the reliability not only of the elements, but of the device as a whole. The paper presents the methods for determination of versatility indicators of reliability depending on mechanical and thermal effects on REDs. Optimization of configuration of the cell (topology) using computer programs allows reducing mechanical and thermal effect on the outputs of EESs and to obtain maximum parameters of reliability of a design. The optimum topology of a cell obtained by such program is illustrated. As a result of optimization, reliability of cells has increased. |
| publisher |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| publishDate |
2015 |
| url |
https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2015.5-6.03 |
| work_keys_str_mv |
AT uvarovbm optimizationofcomplexreliabilityindicatorofwirelessdevicesbychangingtheirtopology AT zinkovskiiyuf optimizationofcomplexreliabilityindicatorofwirelessdevicesbychangingtheirtopology AT uvarovbm optimizaciâkompleksnogopokazatelânadežnostiradiotehničeskihustrojstvputemizmeneniâihtopologii AT zinkovskiiyuf optimizaciâkompleksnogopokazatelânadežnostiradiotehničeskihustrojstvputemizmeneniâihtopologii |
| first_indexed |
2025-09-24T17:30:37Z |
| last_indexed |
2025-09-24T17:30:37Z |
| _version_ |
1850410229790932992 |