Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si

The authors investigated the electrical properties of graphene/n-Si Schottky diode heterostructures obtained by mechanical exfoliation of graphite to thin-layer graphene in an aqueous solution of polyvinylpyrrolidone as a result of the dynamics of the dispersed graphite mixture under the action of a...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2023
Main Authors: Koziarskyi, Ivan, Ilashchuk, Mykola, Orletskyi, Ivan, Koziarskyi, Dmytro, Myroniuk, Liliia, Myroniuk, Denys, Ievtushenko, Arsenii, Danylenko, Ihor, Maistruk, Eduard
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2023
Subjects:
Online Access:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2023.1-2.03
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
id oai:tkea.com.ua:article-33
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-332025-08-11T09:08:46Z I-V-characteristics of Schottky diodes based on graphene/n-Si heterostructures Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si Koziarskyi, Ivan Ilashchuk, Mykola Orletskyi, Ivan Koziarskyi, Dmytro Myroniuk, Liliia Myroniuk, Denys Ievtushenko, Arsenii Danylenko, Ihor Maistruk, Eduard Schottky diodes heterostructures low-layer graphene/n-Si electrical properties діоди Шотткі гетероструктури кількашаровий графен/n-Si електричні властивості The authors investigated the electrical properties of graphene/n-Si Schottky diode heterostructures obtained by mechanical exfoliation of graphite to thin-layer graphene in an aqueous solution of polyvinylpyrrolidone as a result of the dynamics of the dispersed graphite mixture under the action of a mechanical blender. The graphene/n-Si structures differed in terms of duration of applying graphene films on n-Si substrates: 5, 10 and 15 min. The temperature of the substrates did not exceed 250°C. The formation of graphene layers was confirmed by the study of Raman scattering spectra in the frequency range of 1000–3250 cm–1, which show G and 2D bands with the features characteristic of low-layer graphene. The dependence of the electrical properties of the investigated surface-barrier graphene/n-Si structures on the duration of sputtering of graphene films was established. It was found that the value of the contact potential difference φk was 1.35, 1.32 and 1.27 V and the series resistance at room temperature was 3.4·106, 3.4·103 and 3.7·103 Ω for structures with the duration of graphene layer deposition 5, 10 and 15 min, respectively. The formation of both forward and reverse currents was dominated by the tunneling of charge carriers through the potential barrier. Діоди Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si були отримані методом механічного відшарування графіту до кількашарового графену у водному розчині полівінілпіролідону внаслідок гідродинамічних явищ в розчині диспергованого графіту. Досліджувалися електричні властивості структур, які відрізнялися тривалістю нанесення плівок графену на пластини n-Si. Температура пластин не перевищувала 250°C. Утворення шарів графену підтверджено дослідженням спектрів комбінаційного розсіювання в діапазоні частот 1000–3250 см–1, де проявляються смуги G і 2D з особливостями, характерними для кількашарового графену. Встановлено залежність електричних властивостей досліджуваних поверхнево-бар’єрних структур графен/n-Si від тривалості напилення плівок графену. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2023-12-19 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2023.1-2.03 10.15222/TKEA2023.1-2.03 Technology and design in electronic equipment; No. 1–2 (2023): Technology and design in electronic equipment; 3-8 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 1–2 (2023): Технологія та конструювання в електронній апаратурі; 3-8 3083-6549 3083-6530 10.15222/TKEA2023.1-2 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2023.1-2.03/27 Copyright (c) 2023 Ivan Koziarskyi, Mykola Ilashchuk, Ivan Orletskyi, Dmytro Koziarskyi, Liliia Myroniuk, Denys Myroniuk, Arsenii Ievtushenko, Ihor Danylenko, Eduard Maistruk http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date 2025-08-11T09:08:46Z
collection OJS
language Ukrainian
topic діоди Шотткі
гетероструктури
кількашаровий графен/n-Si
електричні властивості
spellingShingle діоди Шотткі
гетероструктури
кількашаровий графен/n-Si
електричні властивості
Koziarskyi, Ivan
Ilashchuk, Mykola
Orletskyi, Ivan
Koziarskyi, Dmytro
Myroniuk, Liliia
Myroniuk, Denys
Ievtushenko, Arsenii
Danylenko, Ihor
Maistruk, Eduard
Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si
topic_facet Schottky diodes
heterostructures
low-layer graphene/n-Si
electrical properties
діоди Шотткі
гетероструктури
кількашаровий графен/n-Si
електричні властивості
format Article
author Koziarskyi, Ivan
Ilashchuk, Mykola
Orletskyi, Ivan
Koziarskyi, Dmytro
Myroniuk, Liliia
Myroniuk, Denys
Ievtushenko, Arsenii
Danylenko, Ihor
Maistruk, Eduard
author_facet Koziarskyi, Ivan
Ilashchuk, Mykola
Orletskyi, Ivan
Koziarskyi, Dmytro
Myroniuk, Liliia
Myroniuk, Denys
Ievtushenko, Arsenii
Danylenko, Ihor
Maistruk, Eduard
author_sort Koziarskyi, Ivan
title Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si
title_short Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si
title_full Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si
title_fullStr Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si
title_full_unstemmed Вольт-амперні характеристики діодів Шотткі на основі гетероструктури графен/n-Si
title_sort вольт-амперні характеристики діодів шотткі на основі гетероструктури графен/n-si
title_alt I-V-characteristics of Schottky diodes based on graphene/n-Si heterostructures
description The authors investigated the electrical properties of graphene/n-Si Schottky diode heterostructures obtained by mechanical exfoliation of graphite to thin-layer graphene in an aqueous solution of polyvinylpyrrolidone as a result of the dynamics of the dispersed graphite mixture under the action of a mechanical blender. The graphene/n-Si structures differed in terms of duration of applying graphene films on n-Si substrates: 5, 10 and 15 min. The temperature of the substrates did not exceed 250°C. The formation of graphene layers was confirmed by the study of Raman scattering spectra in the frequency range of 1000–3250 cm–1, which show G and 2D bands with the features characteristic of low-layer graphene. The dependence of the electrical properties of the investigated surface-barrier graphene/n-Si structures on the duration of sputtering of graphene films was established. It was found that the value of the contact potential difference φk was 1.35, 1.32 and 1.27 V and the series resistance at room temperature was 3.4·106, 3.4·103 and 3.7·103 Ω for structures with the duration of graphene layer deposition 5, 10 and 15 min, respectively. The formation of both forward and reverse currents was dominated by the tunneling of charge carriers through the potential barrier.
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate 2023
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2023.1-2.03
work_keys_str_mv AT koziarskyiivan ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT ilashchukmykola ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT orletskyiivan ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT koziarskyidmytro ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT myroniukliliia ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT myroniukdenys ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT ievtushenkoarsenii ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT danylenkoihor ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT maistrukeduard ivcharacteristicsofschottkydiodesbasedongraphenensiheterostructures
AT koziarskyiivan volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT ilashchukmykola volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT orletskyiivan volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT koziarskyidmytro volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT myroniukliliia volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT myroniukdenys volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT ievtushenkoarsenii volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT danylenkoihor volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
AT maistrukeduard volʹtamperníharakteristikidíodívšottkínaosnovígeterostrukturigrafennsi
first_indexed 2025-09-24T17:30:16Z
last_indexed 2025-09-24T17:30:16Z
_version_ 1850410200141398016