Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения

The article describes a newly-developed method of manufacturing of an operating element of the Cd1–xZnxTe-detector of ionizing radiation with high sensitivity to low-energy gamma radiation of the americium 241Am radioactive isotope. The proposed two-step method of chemical surface treatment...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2013
Автори: Tomashik, Z. F., Stratiichuk, I. B., Tomashik, V. N., Budzulyak, S. I., Gnativ, І. І., Komar, V. K., Dubina, N. G., Lots’ko , A. P., Korbutyak, D. V., Demchina, L. A., Vakhnyak, N. D.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2013
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2013.1.42
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment
id oai:tkea.com.ua:article-404
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-4042025-08-13T20:25:56Z Features of manufacturing Cd1–xZnxTe ionizing radiation detector Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения Tomashik, Z. F. Stratiichuk, I. B. Tomashik, V. N. Budzulyak, S. I. Gnativ, І. І. Komar, V. K. Dubina, N. G. Lots’ko , A. P. Korbutyak, D. V. Demchina, L. A. Vakhnyak, N. D. radiation detectors semiconductor chemical etching chemical-dynamic polishing chemical-mechanical polishing детектор ионизирующего излучения полупроводник химическое травление химико-динамическое полирование химико-механическое полирование The article describes a newly-developed method of manufacturing of an operating element of the Cd1–xZnxTe-detector of ionizing radiation with high sensitivity to low-energy gamma radiation of the americium 241Am radioactive isotope. The proposed two-step method of chemical surface treatment with the use of new bromine releasing polishing etchants significantly improves the quality of the detector material and increases its specific sensitivity to ionizing radiation. This allows to use smaller Cd1–xZnxTe plates, which results in lowering of the cost of detectors. Разработан способ изготовления рабочего элемента Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения с высокой чувствительностью к низкоэнергетическому γ-излучению радиоактивного изотопа америция 241Am. Предложенная методика двухэтапной химической обработки поверхности с использованием новых бромвыделяющих полирующих травителей значительно улучшает качество детекторного материала и способствует увеличению его удельной чувствительности к ионизирующему излучению, а также позволяет использовать меньшие по размеру пластины Cd1–xZnxTe, что приводит к снижению стоимости детекторов. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2013-02-18 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2013.1.42 Technology and design in electronic equipment; No. 1 (2013): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 42-44 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 1 (2013): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 42-44 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2013.1.42/363 Copyright (c) 2013 Tomashik Z. F., Stratiichuk I. B., Tomashik V. N., Budzulyak S. I., Gnativ I. I., Komar V. K., Dubina N. G., Lots’ko A. P., Korbutyak D. V., Demchina L. A., Vakhnyak N. D. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date 2025-08-13T20:25:56Z
collection OJS
language Ukrainian
topic детектор ионизирующего излучения
полупроводник
химическое травление
химико-динамическое полирование
химико-механическое полирование
spellingShingle детектор ионизирующего излучения
полупроводник
химическое травление
химико-динамическое полирование
химико-механическое полирование
Tomashik, Z. F.
Stratiichuk, I. B.
Tomashik, V. N.
Budzulyak, S. I.
Gnativ, І. І.
Komar, V. K.
Dubina, N. G.
Lots’ko , A. P.
Korbutyak, D. V.
Demchina, L. A.
Vakhnyak, N. D.
Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
topic_facet radiation detectors
semiconductor
chemical etching
chemical-dynamic polishing
chemical-mechanical polishing
детектор ионизирующего излучения
полупроводник
химическое травление
химико-динамическое полирование
химико-механическое полирование
format Article
author Tomashik, Z. F.
Stratiichuk, I. B.
Tomashik, V. N.
Budzulyak, S. I.
Gnativ, І. І.
Komar, V. K.
Dubina, N. G.
Lots’ko , A. P.
Korbutyak, D. V.
Demchina, L. A.
Vakhnyak, N. D.
author_facet Tomashik, Z. F.
Stratiichuk, I. B.
Tomashik, V. N.
Budzulyak, S. I.
Gnativ, І. І.
Komar, V. K.
Dubina, N. G.
Lots’ko , A. P.
Korbutyak, D. V.
Demchina, L. A.
Vakhnyak, N. D.
author_sort Tomashik, Z. F.
title Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
title_short Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
title_full Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
title_fullStr Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
title_full_unstemmed Особенности изготовления Cd1–xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
title_sort особенности изготовления cd1–xznxte-детектора ионизирующего излучения
title_alt Features of manufacturing Cd1–xZnxTe ionizing radiation detector
description The article describes a newly-developed method of manufacturing of an operating element of the Cd1–xZnxTe-detector of ionizing radiation with high sensitivity to low-energy gamma radiation of the americium 241Am radioactive isotope. The proposed two-step method of chemical surface treatment with the use of new bromine releasing polishing etchants significantly improves the quality of the detector material and increases its specific sensitivity to ionizing radiation. This allows to use smaller Cd1–xZnxTe plates, which results in lowering of the cost of detectors.
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate 2013
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2013.1.42
work_keys_str_mv AT tomashikzf featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT stratiichukib featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT tomashikvn featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT budzulyaksi featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT gnativíí featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT komarvk featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT dubinang featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT lotskoap featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT korbutyakdv featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT demchinala featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT vakhnyaknd featuresofmanufacturingcd1xznxteionizingradiationdetector
AT tomashikzf osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT stratiichukib osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT tomashikvn osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT budzulyaksi osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT gnativíí osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT komarvk osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT dubinang osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT lotskoap osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT korbutyakdv osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT demchinala osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
AT vakhnyaknd osobennostiizgotovleniâcd1xznxtedetektoraioniziruûŝegoizlučeniâ
first_indexed 2025-09-24T17:30:52Z
last_indexed 2025-09-24T17:30:52Z
_version_ 1850410249229434880