Характеристики фотодиодов со структурой «собственный оксид – InSe», облученных высокоэнергетическими электронами
The article describes the research of the influence of electrons with an effective energy of 12 MeV in the 0,33–33 Mrad dose range on the electrical and photovoltaic properties of photodiodes with «intrinsic oxide — p-InSe» structure. It has been found that the minimum dose improves their basic para...
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Sydor, O. N., Sydor, O. A., Kovalyuk, Z. D., Dubinko, V. I. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2012
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.6.29 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipmentÄhnliche Einträge
-
Характеристики фотодиодов со структурой «собственный оксид – InSe», облученных высокоэнергетическими электронами
von: Сидор, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2012) -
Гетеропереходы, сформированные отжигом слоистых кристаллов GaSe и InSe в парах цинка
von: Kudrynskyi, Z. R., et al.
Veröffentlicht: (2012) -
Влияние отжига на ВАХ гетероперехода n-ZnO – p-InSe
von: Kovalyuk, Z. D., et al.
Veröffentlicht: (2015) -
Подвижность дислокаций в кристаллах LiF, облученных высокоэнергетическими электронами
von: Малик, А.К., et al.
Veröffentlicht: (2003) -
Особенности радиационного повреждения кремниевых детекторов высокоэнергетическими электронами
von: Маслов, Н.И., et al.
Veröffentlicht: (2002)