Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
Differential distribution profiles of the thermal «junction-to-case» resistance of KP723G transistors in accordance with the attachment of the crystals into the package have been investigated. Spectra of thermal resistances were calculated from the analysis of the temporal dependence of the dynamic...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2012
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.44 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipment| id |
oai:tkea.com.ua:article-426 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:tkea.com.ua:article-4262025-09-19T16:00:28Z The investigation of quality of power-transistor crystals soldering by a transient impedance-spectrometer Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром Turtsevich, A. S. Rubtsevich, I. I. Solov’yov, Ya. А. Vas’kov, O. S. Kononenko, V. K. Niss, V. S. Kerentsev, A. F. transistor thermal resistance transient impedance-spectrometer crystal attachment транзистор тепловое сопротивление релаксационный импеданс-спектрометр посадка кристалла Differential distribution profiles of the thermal «junction-to-case» resistance of KP723G transistors in accordance with the attachment of the crystals into the package have been investigated. Spectra of thermal resistances were calculated from the analysis of the temporal dependence of the dynamic thermal impedance obtained by a new non-destructive method of differential spectroscopy. The dependence of internal thermal resistance of transistor structure components on the thermal relaxation time constant is presented. Исследованы дифференциальные профили распределения теплового сопротивления «переход — корпус» транзисторов КП723Г в зависимости от условий монтажа кристаллов в корпус. Спектры тепловых сопротивлений рассчитывались из анализа временной зависимости динамического теплового импеданса, полученной новым неразрушающим методом дифференциальной спектроскопии. Представлена зависимость внутреннего теплового сопротивления компонентов транзисторной структуры от постоянной времени тепловой релаксации. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012-10-23 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.44 Technology and design in electronic equipment; No. 5 (2012): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 44-47 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5 (2012): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 44-47 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.44/385 Copyright (c) 2012 Turtsevich А. S., Rubtsevich I. I., Solov’yov Ya. А., Vas’kov O. S., Kononenko V. К., Niss V. S., Kerentsev А. F. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| institution |
Technology and design in electronic equipment |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2025-09-19T16:00:28Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
транзистор тепловое сопротивление релаксационный импеданс-спектрометр посадка кристалла |
| spellingShingle |
транзистор тепловое сопротивление релаксационный импеданс-спектрометр посадка кристалла Turtsevich, A. S. Rubtsevich, I. I. Solov’yov, Ya. А. Vas’kov, O. S. Kononenko, V. K. Niss, V. S. Kerentsev, A. F. Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| topic_facet |
transistor thermal resistance transient impedance-spectrometer crystal attachment транзистор тепловое сопротивление релаксационный импеданс-спектрометр посадка кристалла |
| format |
Article |
| author |
Turtsevich, A. S. Rubtsevich, I. I. Solov’yov, Ya. А. Vas’kov, O. S. Kononenko, V. K. Niss, V. S. Kerentsev, A. F. |
| author_facet |
Turtsevich, A. S. Rubtsevich, I. I. Solov’yov, Ya. А. Vas’kov, O. S. Kononenko, V. K. Niss, V. S. Kerentsev, A. F. |
| author_sort |
Turtsevich, A. S. |
| title |
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| title_short |
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| title_full |
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| title_fullStr |
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| title_full_unstemmed |
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| title_sort |
исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром |
| title_alt |
The investigation of quality of power-transistor crystals soldering by a transient impedance-spectrometer |
| description |
Differential distribution profiles of the thermal «junction-to-case» resistance of KP723G transistors in accordance with the attachment of the crystals into the package have been investigated. Spectra of thermal resistances were calculated from the analysis of the temporal dependence of the dynamic thermal impedance obtained by a new non-destructive method of differential spectroscopy. The dependence of internal thermal resistance of transistor structure components on the thermal relaxation time constant is presented. |
| publisher |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| publishDate |
2012 |
| url |
https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.5.44 |
| work_keys_str_mv |
AT turtsevichas theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT rubtsevichii theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT solovyovyaa theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT vaskovos theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT kononenkovk theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT nissvs theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT kerentsevaf theinvestigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT turtsevichas issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT rubtsevichii issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT solovyovyaa issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT vaskovos issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT kononenkovk issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT nissvs issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT kerentsevaf issledovaniekačestvapajkikristallovmoŝnyhtranzistorovrelaksacionnymimpedansspektrometrom AT turtsevichas investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT rubtsevichii investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT solovyovyaa investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT vaskovos investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT kononenkovk investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT nissvs investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer AT kerentsevaf investigationofqualityofpowertransistorcrystalssolderingbyatransientimpedancespectrometer |
| first_indexed |
2025-09-24T17:30:55Z |
| last_indexed |
2025-09-24T17:30:55Z |
| _version_ |
1850410253207732224 |