Метод оценки качества тонкопленочной платы

A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows t...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2012
1. Verfasser: Spirin, V. G
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012
Schlagworte:
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
_version_ 1856543860838105088
author Spirin, V. G
author_facet Spirin, V. G
author_sort Spirin, V. G
baseUrl_str
collection OJS
datestamp_date 2025-10-04T10:10:12Z
description A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows the high efficiency of the developed algorithms. This method allows increasing the boards yield by 1,5–2 times.
first_indexed 2025-09-24T17:30:57Z
format Article
id oai:tkea.com.ua:article-447
institution Technology and design in electronic equipment
language Ukrainian
last_indexed 2025-10-05T01:25:48Z
publishDate 2012
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-4472025-10-04T10:10:12Z Method for evaluating the quality of thin-film board Метод оценки качества тонкопленочной платы Spirin, V. G thin-film resistor resistance instrumental error тонкопленочный резистор инструментальная погрешность сопротивления A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows the high efficiency of the developed algorithms. This method allows increasing the boards yield by 1,5–2 times. Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, который основан на результатах из­ме­ре­ния сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей. При­ме­не­ние данного метода позволяет увеличить выход годных плат в 1,5–2 раза. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012-06-25 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2012): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 31-34 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2012): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 31-34 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31/403 Copyright (c) 2012 Spirin V. G. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
spellingShingle тонкопленочный резистор
инструментальная погрешность сопротивления
Spirin, V. G
Метод оценки качества тонкопленочной платы
title Метод оценки качества тонкопленочной платы
title_alt Method for evaluating the quality of thin-film board
title_full Метод оценки качества тонкопленочной платы
title_fullStr Метод оценки качества тонкопленочной платы
title_full_unstemmed Метод оценки качества тонкопленочной платы
title_short Метод оценки качества тонкопленочной платы
title_sort метод оценки качества тонкопленочной платы
topic тонкопленочный резистор
инструментальная погрешность сопротивления
topic_facet thin-film resistor
resistance instrumental error
тонкопленочный резистор
инструментальная погрешность сопротивления
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31
work_keys_str_mv AT spirinvg methodforevaluatingthequalityofthinfilmboard
AT spirinvg metodocenkikačestvatonkoplenočnojplaty