Метод оценки качества тонкопленочной платы
A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows t...
Saved in:
| Date: | 2012 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| id |
oai:tkea.com.ua:article-447 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:tkea.com.ua:article-4472025-10-04T10:10:12Z Method for evaluating the quality of thin-film board Метод оценки качества тонкопленочной платы Spirin, V. G thin-film resistor resistance instrumental error тонкопленочный резистор инструментальная погрешность сопротивления A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows the high efficiency of the developed algorithms. This method allows increasing the boards yield by 1,5–2 times. Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, который основан на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей. Применение данного метода позволяет увеличить выход годных плат в 1,5–2 раза. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2012-06-25 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2012): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 31-34 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2012): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 31-34 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31/403 Copyright (c) 2012 Spirin V. G. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| institution |
Technology and design in electronic equipment |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2025-10-04T10:10:12Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
тонкопленочный резистор инструментальная погрешность сопротивления |
| spellingShingle |
тонкопленочный резистор инструментальная погрешность сопротивления Spirin, V. G Метод оценки качества тонкопленочной платы |
| topic_facet |
thin-film resistor resistance instrumental error тонкопленочный резистор инструментальная погрешность сопротивления |
| format |
Article |
| author |
Spirin, V. G |
| author_facet |
Spirin, V. G |
| author_sort |
Spirin, V. G |
| title |
Метод оценки качества тонкопленочной платы |
| title_short |
Метод оценки качества тонкопленочной платы |
| title_full |
Метод оценки качества тонкопленочной платы |
| title_fullStr |
Метод оценки качества тонкопленочной платы |
| title_full_unstemmed |
Метод оценки качества тонкопленочной платы |
| title_sort |
метод оценки качества тонкопленочной платы |
| title_alt |
Method for evaluating the quality of thin-film board |
| description |
A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows the high efficiency of the developed algorithms. This method allows increasing the boards yield by 1,5–2 times. |
| publisher |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| publishDate |
2012 |
| url |
https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.3.31 |
| work_keys_str_mv |
AT spirinvg methodforevaluatingthequalityofthinfilmboard AT spirinvg metodocenkikačestvatonkoplenočnojplaty |
| first_indexed |
2025-09-24T17:30:57Z |
| last_indexed |
2025-10-05T01:25:48Z |
| _version_ |
1845103216425959424 |