Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
A new approach to the creation of a long-term random-access memory based on the effect of the electron-ion interaction on Si-MOS-transistors is proposed. The difference in levels of signals «zero» and «unit» depends on the regime of reading, and can vary widely. Time of recording-erasing is determin...
Gespeichert in:
| Datum: | 2011 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2011
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.03 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| id |
oai:tkea.com.ua:article-512 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:tkea.com.ua:article-5122025-11-11T15:25:19Z The new approach to the creation of the nonvolatile memory based on Si-MOS-transistors Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов Gulyaev, Yu. V. Zhdan, A. G. Chucheva, G. V. Si-MOSFETs electron-ion interaction nonvolatile memory neutral associates (ion electron) Si-МОП-транзисторы электронно-ионное взаимодействие энергонезависимая память нейтральные ассоциаты (ион электрон) A new approach to the creation of a long-term random-access memory based on the effect of the electron-ion interaction on Si-MOS-transistors is proposed. The difference in levels of signals «zero» and «unit» depends on the regime of reading, and can vary widely. Time of recording-erasing is determined by the size of the transistor and makes some milliseconds. Obtained results allow to suggest, that compared with the traditional flash memory, such storage device will be more reliable and durable. На основе эффекта электронно-ионного взаимодействия предложен новый подход к созданию на Si-МОП-транзисторах долговременной перестраиваемой памяти с произвольным доступом. Различие в уровнях сигналов «ноль» и «единица» зависит от режима считывания и может варьироваться в широких пределах. Значения времени записи и стирания определяются размерами транзистора и составляют миллисекунды. Полученные результаты дают основания полагать, что по сравнению с традиционной Flash-памятью такое запоминающее устройство будет более надежным и долговечным. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2011-06-28 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.03 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2011): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 3-5 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2011): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 3-5 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.03/464 Copyright (c) 2011 Gulyaev Yu. V., Zhdan A. G., Chucheva G. V. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| institution |
Technology and design in electronic equipment |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2025-11-11T15:25:19Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
Si-МОП-транзисторы электронно-ионное взаимодействие энергонезависимая память нейтральные ассоциаты (ион электрон) |
| spellingShingle |
Si-МОП-транзисторы электронно-ионное взаимодействие энергонезависимая память нейтральные ассоциаты (ион электрон) Gulyaev, Yu. V. Zhdan, A. G. Chucheva, G. V. Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов |
| topic_facet |
Si-MOSFETs electron-ion interaction nonvolatile memory neutral associates (ion electron) Si-МОП-транзисторы электронно-ионное взаимодействие энергонезависимая память нейтральные ассоциаты (ион электрон) |
| format |
Article |
| author |
Gulyaev, Yu. V. Zhdan, A. G. Chucheva, G. V. |
| author_facet |
Gulyaev, Yu. V. Zhdan, A. G. Chucheva, G. V. |
| author_sort |
Gulyaev, Yu. V. |
| title |
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов |
| title_short |
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов |
| title_full |
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов |
| title_fullStr |
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов |
| title_full_unstemmed |
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов |
| title_sort |
новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе si-моп-транзисторов |
| title_alt |
The new approach to the creation of the nonvolatile memory based on Si-MOS-transistors |
| description |
A new approach to the creation of a long-term random-access memory based on the effect of the electron-ion interaction on Si-MOS-transistors is proposed. The difference in levels of signals «zero» and «unit» depends on the regime of reading, and can vary widely. Time of recording-erasing is determined by the size of the transistor and makes some milliseconds. Obtained results allow to suggest, that compared with the traditional flash memory, such storage device will be more reliable and durable. |
| publisher |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| publishDate |
2011 |
| url |
https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.03 |
| work_keys_str_mv |
AT gulyaevyuv thenewapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors AT zhdanag thenewapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors AT chuchevagv thenewapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors AT gulyaevyuv novyjpodhodksozdaniûustrojstvsénergonezavisimojpamâtʹûnaosnovesimoptranzistorov AT zhdanag novyjpodhodksozdaniûustrojstvsénergonezavisimojpamâtʹûnaosnovesimoptranzistorov AT chuchevagv novyjpodhodksozdaniûustrojstvsénergonezavisimojpamâtʹûnaosnovesimoptranzistorov AT gulyaevyuv newapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors AT zhdanag newapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors AT chuchevagv newapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors |
| first_indexed |
2025-11-06T02:51:36Z |
| last_indexed |
2025-11-12T02:42:23Z |
| _version_ |
1850410267005943808 |