Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов
Necessity of resistive layer growth under the contact and in the contact zone of resistive element is shown in order to reduce peak values of current flow and power dissipation in the contact of thin film resistor, thereby to increase the resistor stability to parametric and catastrophic failures.
Saved in:
| Date: | 2010 |
|---|---|
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2010
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.5-6.11 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| id |
oai:tkea.com.ua:article-545 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:tkea.com.ua:article-5452025-11-13T21:50:27Z Reliability growth of thin film resistors contact Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов Lugin, A. N. Ozemsha, M. M. contact thin film resistor current density dissipation power контакт тонкопленочный резистор плотность тока мощность рассеяния Necessity of resistive layer growth under the contact and in the contact zone of resistive element is shown in order to reduce peak values of current flow and power dissipation in the contact of thin film resistor, thereby to increase the resistor stability to parametric and catastrophic failures. Показано, что с целью снижения пиковых значений тока и мощности рассеяния в контакте тонкопленочного резистора, а значит, и повышения устойчивости резистора к параметрическим и катастрофическим отказам необходимо увеличить толщину резистивного слоя под контактом и в приграничной к контакту зоне резистивного элемента. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2010-12-26 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.5-6.11 Technology and design in electronic equipment; No. 5–6 (2010): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 11-14 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5–6 (2010): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 11-14 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.5-6.11/494 Copyright (c) 2010 Lugin A. N., Ozemsha M. M. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| institution |
Technology and design in electronic equipment |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2025-11-13T21:50:27Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
контакт тонкопленочный резистор плотность тока мощность рассеяния |
| spellingShingle |
контакт тонкопленочный резистор плотность тока мощность рассеяния Lugin, A. N. Ozemsha, M. M. Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| topic_facet |
contact thin film resistor current density dissipation power контакт тонкопленочный резистор плотность тока мощность рассеяния |
| format |
Article |
| author |
Lugin, A. N. Ozemsha, M. M. |
| author_facet |
Lugin, A. N. Ozemsha, M. M. |
| author_sort |
Lugin, A. N. |
| title |
Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| title_short |
Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| title_full |
Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| title_fullStr |
Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| title_full_unstemmed |
Повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| title_sort |
повышение надежности контакта тонкопленочных резисторов |
| title_alt |
Reliability growth of thin film resistors contact |
| description |
Necessity of resistive layer growth under the contact and in the contact zone of resistive element is shown in order to reduce peak values of current flow and power dissipation in the contact of thin film resistor, thereby to increase the resistor stability to parametric and catastrophic failures. |
| publisher |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| publishDate |
2010 |
| url |
https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.5-6.11 |
| work_keys_str_mv |
AT luginan reliabilitygrowthofthinfilmresistorscontact AT ozemshamm reliabilitygrowthofthinfilmresistorscontact AT luginan povyšenienadežnostikontaktatonkoplenočnyhrezistorov AT ozemshamm povyšenienadežnostikontaktatonkoplenočnyhrezistorov |
| first_indexed |
2025-11-14T03:18:12Z |
| last_indexed |
2025-11-14T03:18:12Z |
| _version_ |
1848822209215201280 |