Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации

The VLSI structure redundancy evaluation with the aid of noise stability clustering was carried out. The VLSI redundant elements choice method was proposed. This method was established on the base of the medium clustering defect distribution’s block size evaluation. That’s methods implementation pro...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2010
1. Verfasser: Shcherbakova, G. Yu.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2010
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.18
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
id oai:tkea.com.ua:article-604
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-6042025-11-26T22:15:42Z VLSI structure redundancy evaluation with the aid of noise stability clustering Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации Shcherbakova, G. Yu. The VLSI structure redundancy evaluation with the aid of noise stability clustering was carried out. The VLSI redundant elements choice method was proposed. This method was established on the base of the medium clustering defect distribution’s block size evaluation. That’s methods implementation procedure was proposed. Предложен метод выбора количества избыточных элементов БИС, основанный на оценке раз­ме­ров блока среднекластерного отрицательного биномиального распределения. Предложены про­це­ду­ры реализации обоих методов. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2010-02-26 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.18 Technology and design in electronic equipment; No. 1 (2010): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 18-21 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 1 (2010): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 18-21 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.18/549 Copyright (c) 2010 Shcherbakova G. Yu. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date 2025-11-26T22:15:42Z
collection OJS
language Ukrainian
format Article
author Shcherbakova, G. Yu.
spellingShingle Shcherbakova, G. Yu.
Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
author_facet Shcherbakova, G. Yu.
author_sort Shcherbakova, G. Yu.
title Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
title_short Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
title_full Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
title_fullStr Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
title_full_unstemmed Оценка структурной избыточности БИС с помощью помехоустойчивой кластеризации
title_sort оценка структурной избыточности бис с помощью помехоустойчивой кластеризации
title_alt VLSI structure redundancy evaluation with the aid of noise stability clustering
description The VLSI structure redundancy evaluation with the aid of noise stability clustering was carried out. The VLSI redundant elements choice method was proposed. This method was established on the base of the medium clustering defect distribution’s block size evaluation. That’s methods implementation procedure was proposed.
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate 2010
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.18
work_keys_str_mv AT shcherbakovagyu vlsistructureredundancyevaluationwiththeaidofnoisestabilityclustering
AT shcherbakovagyu ocenkastrukturnojizbytočnostibisspomoŝʹûpomehoustojčivojklasterizacii
first_indexed 2025-12-02T15:19:21Z
last_indexed 2025-12-02T15:19:21Z
_version_ 1850410282852024320