Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур
The construction of mercury microprobe has been proposed for measurement of electrophysical characteristics of semiconductor materials and IS(MIS) structures with 5—25 micron locality. Local electrophysical properties of technological Si–SiO2 structures with thin oxides in the region of ele...
Gespeichert in:
| Datum: | 2010 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Yu. M. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2010.1.35 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipmentÄhnliche Einträge
-
Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур
von: Попов, В.М., et al.
Veröffentlicht: (2010) -
Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния
von: Popov, V. M., et al.
Veröffentlicht: (2010) -
Гетеропереходы, сформированные отжигом слоистых кристаллов GaSe и InSe в парах цинка
von: Kudrynskyi, Z. R., et al.
Veröffentlicht: (2012) -
Влияние облучения кремния низкоэнергетическими ионами аргона на образование в нем электрически активных дефектов
von: Popov, V. M., et al.
Veröffentlicht: (2009) -
УСЛОВИЯ ВОЗНИКНОВЕНИЯ И РОСТА ТРЕЩИН В РОТОРЕ ТУРБОГЕНЕРАТОРА ВСЛЕДСТВИЕ ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКИХ ВОЗДЕЙСТВИЙ В АНОРМАЛЬНЫХ РЕЖИМАХ
von: Tитко , A.И., et al.
Veröffentlicht: (2012)