Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы

Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы

The results of computer modeling of the chaotic motion of elementary particles in a flat rectangle, which can be correlated with a thin-film resistor containing conduction electrons, are presented. Analysis of the spectral density of the chaotic motion shows that one of the parameters of flicker no...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2009
Main Authors: Kolodiy, Z. A., Kruk, O. H., Sanots’kyy, Yu. V., Holynskyy, V. D., Kolodiy, A. Z., Depko, P. I.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2009
Subjects:
фликкер-шум
спектральная плотность флуктуаций
время релаксации
Online Access:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2009.1.10
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
id oai:tkea.com.ua:article-690
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-6902025-12-05T21:39:59Z Correlation between the parameters of the spectral density of flicker noise and the features of the internal structure of the system Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы Kolodiy, Z. A. Kruk, O. H. Sanots’kyy, Yu. V. Holynskyy, V. D. Kolodiy, A. Z. Depko, P. I. flicker-noise spectral closeness of fluctuations time of relaxation фликкер-шум спектральная плотность флуктуаций время релаксации The results of computer modeling of the chaotic motion of elementary particles in a flat rectangle, which can be correlated with a thin-film resistor containing conduction electrons, are presented. Analysis of the spectral density of the chaotic motion shows that one of the parameters of flicker noise depends only on the number of elementary particles and the average velocity of their motion. The second parameter of flicker noise (relaxation time) depends on the features of the internal structure of the system. This can be used to predict the reliability of both individual electronic components and equipment as a whole based on the measured level of their flicker noise. Приведены результаты компьютерного моделирования хаотического дви­же­ния эле­мен­тар­ных час­тиц в плос­ком пря­мо­уголь­ни­ке, ко­то­ро­му мож­но по­ста­вить в со­от­вет­ствие пле­ноч­ный ре­зис­тор с элек­тро­на­ми про­во­ди­мос­ти. Ана­лиз спек­траль­ной плот­нос­ти ха­оти­чес­ко­го дви­же­ния по­ка­зы­ва­ет, что один из па­ра­мет­ров флик­кер-шу­ма за­ви­сит толь­ко от ко­ли­чес­тва эле­мен­тар­ных час­тиц и сред­ней ско­рос­ти их дви­же­ния. Вто­рой па­ра­метр флик­кер-шу­ма (вре­мя ре­лак­са­ции) за­ви­сит от осо­бен­нос­тей внут­рен­ней струк­ту­ры сис­те­мы. Это мо­жет быть ис­поль­зо­ва­но для про­гно­зи­ро­ва­ния на­деж­нос­ти как от­дель­ных эле­мен­тов элек­тро­ни­ки, так и ап­па­ра­ту­ры в це­лом по из­ме­рен­но­му уров­ню их флик­кер-шу­ма. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2009-02-27 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2009.1.10 Technology and design in electronic equipment; No. 1 (2009): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 10-14 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 1 (2009): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 10-14 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2009.1.10/627 Copyright (c) 2009 Kolodiy Z. A., Kruk O. H., Sanots’kyy Y. V., Holynskyy V. D., Kolodiy A. Z., Depko P. I. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date 2025-12-05T21:39:59Z
collection OJS
language Ukrainian
topic фликкер-шум
спектральная плотность флуктуаций
время релаксации
spellingShingle фликкер-шум
спектральная плотность флуктуаций
время релаксации
Kolodiy, Z. A.
Kruk, O. H.
Sanots’kyy, Yu. V.
Holynskyy, V. D.
Kolodiy, A. Z.
Depko, P. I.
Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
topic_facet flicker-noise
spectral closeness of fluctuations
time of relaxation
фликкер-шум
спектральная плотность флуктуаций
время релаксации
format Article
author Kolodiy, Z. A.
Kruk, O. H.
Sanots’kyy, Yu. V.
Holynskyy, V. D.
Kolodiy, A. Z.
Depko, P. I.
author_facet Kolodiy, Z. A.
Kruk, O. H.
Sanots’kyy, Yu. V.
Holynskyy, V. D.
Kolodiy, A. Z.
Depko, P. I.
author_sort Kolodiy, Z. A.
title Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_short Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_full Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_fullStr Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_full_unstemmed Cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_sort cвязь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_alt Correlation between the parameters of the spectral density of flicker noise and the features of the internal structure of the system
description The results of computer modeling of the chaotic motion of elementary particles in a flat rectangle, which can be correlated with a thin-film resistor containing conduction electrons, are presented. Analysis of the spectral density of the chaotic motion shows that one of the parameters of flicker noise depends only on the number of elementary particles and the average velocity of their motion. The second parameter of flicker noise (relaxation time) depends on the features of the internal structure of the system. This can be used to predict the reliability of both individual electronic components and equipment as a whole based on the measured level of their flicker noise.
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate 2009
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2009.1.10
work_keys_str_mv AT kolodiyza correlationbetweentheparametersofthespectraldensityofflickernoiseandthefeaturesoftheinternalstructureofthesystem
AT krukoh correlationbetweentheparametersofthespectraldensityofflickernoiseandthefeaturesoftheinternalstructureofthesystem
AT sanotskyyyuv correlationbetweentheparametersofthespectraldensityofflickernoiseandthefeaturesoftheinternalstructureofthesystem
AT holynskyyvd correlationbetweentheparametersofthespectraldensityofflickernoiseandthefeaturesoftheinternalstructureofthesystem
AT kolodiyaz correlationbetweentheparametersofthespectraldensityofflickernoiseandthefeaturesoftheinternalstructureofthesystem
AT depkopi correlationbetweentheparametersofthespectraldensityofflickernoiseandthefeaturesoftheinternalstructureofthesystem
AT kolodiyza cvâzʹparametrovspektralʹnojplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrennejstrukturysistemy
AT krukoh cvâzʹparametrovspektralʹnojplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrennejstrukturysistemy
AT sanotskyyyuv cvâzʹparametrovspektralʹnojplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrennejstrukturysistemy
AT holynskyyvd cvâzʹparametrovspektralʹnojplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrennejstrukturysistemy
AT kolodiyaz cvâzʹparametrovspektralʹnojplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrennejstrukturysistemy
AT depkopi cvâzʹparametrovspektralʹnojplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrennejstrukturysistemy
first_indexed 2025-12-06T12:40:43Z
last_indexed 2025-12-06T12:40:43Z
_version_ 1850836707984801792

Similar Items