Влияние исходных дефектов на распределение механических напряжений и деформаций при окислении кремния

Using modern methods, the complex structure of near-surface silicon layers in the “silicon — silicon dioxide” systems has been investigated. The dependencies of the parameters of these layers on oxidation conditions and the characteristics of the initial silicon have been identified. The influence o...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2008
Автори: Kulinich, O. A., Smyntyna, V. A., Glauberman, M. A., Chemeresyuk, G. G., Yatsunskiy, I. R.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2008
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.5.62
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment

Схожі ресурси