Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем
The effect of fast electrons and neutrons has been studied on microsystems designed for measuring and stabilizing the temperature of primary converters of non-electrical quantities, whose transfer characteristics depend on temperature. A sufficiently high resistance of the main parameters of the mic...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.4.14 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1856543930068238336 |
|---|---|
| author | Mokritskij, V. A. Banzak, O. V. Volosevich, V. P. |
| author_facet | Mokritskij, V. A. Banzak, O. V. Volosevich, V. P. |
| author_sort | Mokritskij, V. A. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-01-04T20:13:39Z |
| description | The effect of fast electrons and neutrons has been studied on microsystems designed for measuring and stabilizing the temperature of primary converters of non-electrical quantities, whose transfer characteristics depend on temperature. A sufficiently high resistance of the main parameters of the microcircuits to such exposure has been revealed. The causes of changes in certain parameters under the influence of the mentioned radiation have been demonstrated. |
| first_indexed | 2026-02-08T08:11:03Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-737 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-02-08T08:11:03Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-7372026-01-04T20:13:39Z Research of radiation resistance of hybrid integrated circuits Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем Mokritskij, V. A. Banzak, O. V. Volosevich, V. P. radiation processing fast electrons and neutrons thin-film technology радиационная обработка быстрые электроны и нейтроны тонкопленочная технология The effect of fast electrons and neutrons has been studied on microsystems designed for measuring and stabilizing the temperature of primary converters of non-electrical quantities, whose transfer characteristics depend on temperature. A sufficiently high resistance of the main parameters of the microcircuits to such exposure has been revealed. The causes of changes in certain parameters under the influence of the mentioned radiation have been demonstrated. Исследование воздействия быстрых электронов и нейтронов проведено на микросборках, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, у которых передаточная характеристика зависит от температуры. Обнаружена достаточно высокая стойкость основных параметров микросхем к такому воздействию. Показаны причины изменений некоторых параметров под действием названных излучений. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2008-08-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.4.14 Technology and design in electronic equipment; No. 4 (2008): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 14-15 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 4 (2008): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 14-15 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.4.14/666 Copyright (c) 2008 Mokritskij V. A., Banzak O. V., Volosevich V. P. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | радиационная обработка быстрые электроны и нейтроны тонкопленочная технология Mokritskij, V. A. Banzak, O. V. Volosevich, V. P. Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_alt | Research of radiation resistance of hybrid integrated circuits |
| title_full | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_fullStr | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_full_unstemmed | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_short | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_sort | исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| topic | радиационная обработка быстрые электроны и нейтроны тонкопленочная технология |
| topic_facet | radiation processing fast electrons and neutrons thin-film technology радиационная обработка быстрые электроны и нейтроны тонкопленочная технология |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.4.14 |
| work_keys_str_mv | AT mokritskijva researchofradiationresistanceofhybridintegratedcircuits AT banzakov researchofradiationresistanceofhybridintegratedcircuits AT volosevichvp researchofradiationresistanceofhybridintegratedcircuits AT mokritskijva issledovanieradiacionnojstojkostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT banzakov issledovanieradiacionnojstojkostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT volosevichvp issledovanieradiacionnojstojkostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem |