Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
The creation of new competitive information display devices that utilize a wide range of electro-optical effects in nematic, smectic, and cholesteric liquid crystals, as well as ensuring their reliable operation under specified conditions, is impossible without proper diagnostics. This problem is fa...
Saved in:
| Date: | 2008 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.1.48 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1856543941269127168 |
|---|---|
| author | Sorokin, V. M. Zelinskyy, R. Ya. Rybalochka, A. V. Oliynyk, A. S. |
| author_facet | Sorokin, V. M. Zelinskyy, R. Ya. Rybalochka, A. V. Oliynyk, A. S. |
| author_sort | Sorokin, V. M. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-01-27T16:48:59Z |
| description | The creation of new competitive information display devices that utilize a wide range of electro-optical effects in nematic, smectic, and cholesteric liquid crystals, as well as ensuring their reliable operation under specified conditions, is impossible without proper diagnostics. This problem is facilitated by modern universal measuring and computing complexes. Among the range of complexes used worldwide, the SM-100 complex, developed at the Institute of Semiconductor Physics of the National Academy of Sciences of Ukraine, is optimal for research centers and enterprises in Russia, Belarus, and Ukraine. |
| first_indexed | 2026-02-08T08:11:13Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-793 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-02-08T08:11:13Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-7932026-01-27T16:48:59Z Measuring and computing complex СM-100 for characterization of liquid crystal displays Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев Sorokin, V. M. Zelinskyy, R. Ya. Rybalochka, A. V. Oliynyk, A. S. liquid crystals electro-optical parameters information display devices measuring and computing complex СМ-100 жидкие кристаллы электрооптические параметры средства отображения информации измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 The creation of new competitive information display devices that utilize a wide range of electro-optical effects in nematic, smectic, and cholesteric liquid crystals, as well as ensuring their reliable operation under specified conditions, is impossible without proper diagnostics. This problem is facilitated by modern universal measuring and computing complexes. Among the range of complexes used worldwide, the SM-100 complex, developed at the Institute of Semiconductor Physics of the National Academy of Sciences of Ukraine, is optimal for research centers and enterprises in Russia, Belarus, and Ukraine. Создание новых конкурентоспособных средств отображения информации, использующих широкую гамму электрооптических эффектов в нематических, смектических и холестерических жидких кристаллах, а также обеспечение их нормальной работы в заданных условиях эксплуатации невозможно без правильного диагностирования. Решение этой проблемы облегчают современные универсальные измерительно-вычислительные комплексы. Среди ряда комплексов, используемых в мире, для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2008-02-28 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.1.48 Technology and design in electronic equipment; No. 1 (2008): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 48-53 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 1 (2008): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 48-53 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.1.48/718 Copyright (c) 2008 V. M. Sorokin, R. Ya. Zelinskyy, A. V. Rybalochka, A. S. Oliynyk http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | жидкие кристаллы электрооптические параметры средства отображения информации измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 Sorokin, V. M. Zelinskyy, R. Ya. Rybalochka, A. V. Oliynyk, A. S. Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_alt | Measuring and computing complex СM-100 for characterization of liquid crystal displays |
| title_full | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_fullStr | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_full_unstemmed | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_short | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_sort | измерительно-вычислительный комплекс см-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| topic | жидкие кристаллы электрооптические параметры средства отображения информации измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 |
| topic_facet | liquid crystals electro-optical parameters information display devices measuring and computing complex СМ-100 жидкие кристаллы электрооптические параметры средства отображения информации измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.1.48 |
| work_keys_str_mv | AT sorokinvm measuringandcomputingcomplexsm100forcharacterizationofliquidcrystaldisplays AT zelinskyyrya measuringandcomputingcomplexsm100forcharacterizationofliquidcrystaldisplays AT rybalochkaav measuringandcomputingcomplexsm100forcharacterizationofliquidcrystaldisplays AT oliynykas measuringandcomputingcomplexsm100forcharacterizationofliquidcrystaldisplays AT sorokinvm izmeritelʹnovyčislitelʹnyjkomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT zelinskyyrya izmeritelʹnovyčislitelʹnyjkomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT rybalochkaav izmeritelʹnovyčislitelʹnyjkomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT oliynykas izmeritelʹnovyčislitelʹnyjkomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev |