Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока
The causes of failure of semiconductor power diodes under the action of surge current pulses have been investigated. It is shown that currents below the surge level do not affect the diode resistance or reliability. When the current reaches the surge value, the diode resistance increases after each...
Saved in:
| Date: | 2007 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2007
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.33 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1859471940188635136 |
|---|---|
| author | Pavljuk, S. P. Savitskiy, S. M. Soltys, R. B. Tishchenko, I. Yu. |
| author_facet | Pavljuk, S. P. Savitskiy, S. M. Soltys, R. B. Tishchenko, I. Yu. |
| author_sort | Pavljuk, S. P. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-03-10T19:38:07Z |
| description |
The causes of failure of semiconductor power diodes under the action of surge current pulses have been investigated. It is shown that currents below the surge level do not affect the diode resistance or reliability. When the current reaches the surge value, the diode resistance increases after each repeated pulse, and after several pulses the diode fails. In this case, the forward resistance increases approximately threefold, while the temperature significantly exceeds the permissible limit. An explanation of the observed effects is proposed.
|
| first_indexed | 2026-03-12T15:50:31Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-809 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-03-12T15:50:31Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-8092026-03-10T19:38:07Z Resistance change of power diodes under surge current pulses Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока Pavljuk, S. P. Savitskiy, S. M. Soltys, R. B. Tishchenko, I. Yu. surge current resistance heating defects recombination centers carrier lifetime ударный ток сопротивление разогрев дефекты центры рекомбинации время жизни The causes of failure of semiconductor power diodes under the action of surge current pulses have been investigated. It is shown that currents below the surge level do not affect the diode resistance or reliability. When the current reaches the surge value, the diode resistance increases after each repeated pulse, and after several pulses the diode fails. In this case, the forward resistance increases approximately threefold, while the temperature significantly exceeds the permissible limit. An explanation of the observed effects is proposed. Исследованы причины выхода из строя кристаллов полупроводниковых силовых диодов при прохождении через них импульсов ударного тока. Показано, что при токах меньше ударного сопротивление и надежность работы диода не изменяются. При ударном токе сопротивление диода увеличивается при каждом повторном импульсе. После прохождения нескольких импульсов диод выходит из строя, т. к. его прямое сопротивление увеличивается в 3 раза, а температура существенно превышает допустимую. Предложено объяснение наблюдаемых эффектов. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2007-12-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.33 Technology and design in electronic equipment; No. 6 (2007): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 33-35 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 6 (2007): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 33-35 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.33/732 Copyright (c) 2007 Pavljuk S. P., Savitskiy S. M., Soltys R. B., Tishchenko I. Yu. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | ударный ток сопротивление разогрев дефекты центры рекомбинации время жизни Pavljuk, S. P. Savitskiy, S. M. Soltys, R. B. Tishchenko, I. Yu. Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| title | Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| title_alt | Resistance change of power diodes under surge current pulses |
| title_full | Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| title_fullStr | Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| title_full_unstemmed | Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| title_short | Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| title_sort | изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока |
| topic | ударный ток сопротивление разогрев дефекты центры рекомбинации время жизни |
| topic_facet | surge current resistance heating defects recombination centers carrier lifetime ударный ток сопротивление разогрев дефекты центры рекомбинации время жизни |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.33 |
| work_keys_str_mv | AT pavljuksp resistancechangeofpowerdiodesundersurgecurrentpulses AT savitskiysm resistancechangeofpowerdiodesundersurgecurrentpulses AT soltysrb resistancechangeofpowerdiodesundersurgecurrentpulses AT tishchenkoiyu resistancechangeofpowerdiodesundersurgecurrentpulses AT pavljuksp izmeneniesoprotivleniâsilovyhdiodovpoddejstviemimpulʹsovudarnogotoka AT savitskiysm izmeneniesoprotivleniâsilovyhdiodovpoddejstviemimpulʹsovudarnogotoka AT soltysrb izmeneniesoprotivleniâsilovyhdiodovpoddejstviemimpulʹsovudarnogotoka AT tishchenkoiyu izmeneniesoprotivleniâsilovyhdiodovpoddejstviemimpulʹsovudarnogotoka |