Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств
The article analyzes the applicability of thermography for diagnosing electronic devices. Typical faults detectable by thermal imaging are presented. The advantages of non-contact thermal inspection over contact methods are described, along with specific features of thermography for electronic equip...
Збережено в:
| Дата: | 2007 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2007
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.42 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Репозитарії
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1859471940230578176 |
|---|---|
| author | Panfilova, S. P. Vlasov, A. I. Gridnev, V. N. Chervinsky, A. S. |
| author_facet | Panfilova, S. P. Vlasov, A. I. Gridnev, V. N. Chervinsky, A. S. |
| author_sort | Panfilova, S. P. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-03-10T19:38:07Z |
| description | The article analyzes the applicability of thermography for diagnosing electronic devices. Typical faults detectable by thermal imaging are presented. The advantages of non-contact thermal inspection over contact methods are described, along with specific features of thermography for electronic equipment. The thermographic apparatus is outlined, and recommendations for its selection in electronic diagnostics are provided. An example of applying the thermographic method to check electronic devices is given. The main functions of the software used in thermography and its importance are also described. |
| first_indexed | 2026-03-12T15:50:31Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-811 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-03-12T15:50:31Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-8112026-03-10T19:38:07Z Non-contact thermal inspection of electronic computing equipment Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств Panfilova, S. P. Vlasov, A. I. Gridnev, V. N. Chervinsky, A. S. thermal imaging inspection neural networks image processing тепловизионный контроль нейросети обработка изображений The article analyzes the applicability of thermography for diagnosing electronic devices. Typical faults detectable by thermal imaging are presented. The advantages of non-contact thermal inspection over contact methods are described, along with specific features of thermography for electronic equipment. The thermographic apparatus is outlined, and recommendations for its selection in electronic diagnostics are provided. An example of applying the thermographic method to check electronic devices is given. The main functions of the software used in thermography and its importance are also described. Применимость бесконтактного теплового контроля для изделий электронной промышленности и его достоинства подтверждены экспериментально. Описаны технические средства контроля, основные функции программного обеспечения. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2007-12-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.42 Technology and design in electronic equipment; No. 6 (2007): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 42-49 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 6 (2007): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 42-49 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.42/734 Copyright (c) 2007 Panfilova S. P., Vlasov A. I., Gridnev V. N., Chervinsky A. S. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | тепловизионный контроль нейросети обработка изображений Panfilova, S. P. Vlasov, A. I. Gridnev, V. N. Chervinsky, A. S. Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| title | Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| title_alt | Non-contact thermal inspection of electronic computing equipment |
| title_full | Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| title_fullStr | Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| title_full_unstemmed | Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| title_short | Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| title_sort | бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств |
| topic | тепловизионный контроль нейросети обработка изображений |
| topic_facet | thermal imaging inspection neural networks image processing тепловизионный контроль нейросети обработка изображений |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.6.42 |
| work_keys_str_mv | AT panfilovasp noncontactthermalinspectionofelectroniccomputingequipment AT vlasovai noncontactthermalinspectionofelectroniccomputingequipment AT gridnevvn noncontactthermalinspectionofelectroniccomputingequipment AT chervinskyas noncontactthermalinspectionofelectroniccomputingequipment AT panfilovasp beskontaktnyjteplovojkontrolʹélektronnovyčislitelʹnyhsredstv AT vlasovai beskontaktnyjteplovojkontrolʹélektronnovyčislitelʹnyhsredstv AT gridnevvn beskontaktnyjteplovojkontrolʹélektronnovyčislitelʹnyhsredstv AT chervinskyas beskontaktnyjteplovojkontrolʹélektronnovyčislitelʹnyhsredstv |