Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe

Due to the physical properties of MoN and ITO thin films, it was decided to create MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterostructures and investigate their electrical and photoelectric properties. The method of reactive magnetron sputtering was used to create thin MoN and ITO films on single crystal CdTe su...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2021
Hauptverfasser: Kovaliuk, Taras, Solovan, Mykhaylo, Maryanchuk, Pavlo
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2021
Schlagworte:
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2021.1-2.33
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
id oai:tkea.com.ua:article-84
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-842025-12-16T20:30:22Z Electrical and photoelectric properties of MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterojunctions Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe Kovaliuk, Taras Solovan, Mykhaylo Maryanchuk, Pavlo CdTe molybdenum nitride heterojunctions thin film current transport mechanisms CdTe нітрид молібдену гетероперехід тонка плівка механізми струмопереносу Due to the physical properties of MoN and ITO thin films, it was decided to create MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterostructures and investigate their electrical and photoelectric properties. The method of reactive magnetron sputtering was used to create thin MoN and ITO films on single crystal CdTe substrates with different conductivity types. To manufacture test heterostructures, the following CdTe crystal substrates were used: 1) p-type conductivity, grown by Bridgman technique at low cadmium vapor pressures; 2) n-type conductivity, grown by Bridgman technique at high cadmium vapor pressures. During the deposition process, the argon pressure in the vacuum chamber was 0.4 Pa. The power of the magnetron was 30 W, the sputtering process continued 5 min at a substrate temperature of 150°C. I-V characteristics of the heterostructures at different temperatures were measured, the height of the potential barrier, the values of the series and shunt resistance were determined. Electrical and photoelectric properties of the heterostructures were studied, and the dominant mechanisms of current transfer at forward displacements was established. The tunnel-recombination mechanism was found to be the dominant mechanism of current transfer in the MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterostructures. It was shown that the photoelectric parameters for the MoN/p-CdTe heterostructure are higher than those for MoN/n-CdTe. MoN/p-CdTe heterojunctions have the following photoelectric parameters: open-circuit voltage Voc = 0.4 V, short-circuit current Isc = 24.6 mA/cm2 at an illumination intensity of 80 mW/cm2. This makes them a promising material for the manufacture of detectors of various radiation types. Досліджено електричні та фотоелектричні властивості гетероструктур MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe, отриманих методом магнетронного осадження тонких плівок MoN та ITО на підкладки CdTe з різним типом провідності. Встановлено, що в обох випадках домінуючим механізмом струмопереносу при прямих зміщеннях є тунельно-рекомбінаційний. Показано, що кращі фотоелектричні параметри має гетероструктура MoN/p-CdTe, а саме: напруга холостого ходу Voc = 0,4 В, струм короткого замикання Isc = 24,6 мА/см2 за інтенсивності освітлення 80 мВт/см2. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2021-03-23 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2021.1-2.33 10.15222/TKEA2021.1-2.33 Technology and design in electronic equipment; No. 1–2 (2021): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 33-38 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 1–2 (2021): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 33-38 3083-6549 3083-6530 10.15222/TKEA2021.1-2 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2021.1-2.33/77 Copyright (c) 2021 Taras Kovaliuk, Mykhaylo Solovan, Pavlo Maryanchuk http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date 2025-12-16T20:30:22Z
collection OJS
language Ukrainian
topic CdTe
нітрид молібдену
гетероперехід
тонка плівка
механізми струмопереносу
spellingShingle CdTe
нітрид молібдену
гетероперехід
тонка плівка
механізми струмопереносу
Kovaliuk, Taras
Solovan, Mykhaylo
Maryanchuk, Pavlo
Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe
topic_facet CdTe
molybdenum nitride
heterojunctions
thin film
current transport mechanisms
CdTe
нітрид молібдену
гетероперехід
тонка плівка
механізми струмопереносу
format Article
author Kovaliuk, Taras
Solovan, Mykhaylo
Maryanchuk, Pavlo
author_facet Kovaliuk, Taras
Solovan, Mykhaylo
Maryanchuk, Pavlo
author_sort Kovaliuk, Taras
title Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe
title_short Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe
title_full Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe
title_fullStr Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe
title_full_unstemmed Електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів MoN/p-CdTe та MoN/n-CdTe
title_sort електричні та фотоелектричні властивості гетеропереходів mon/p-cdte та mon/n-cdte
title_alt Electrical and photoelectric properties of MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterojunctions
description Due to the physical properties of MoN and ITO thin films, it was decided to create MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterostructures and investigate their electrical and photoelectric properties. The method of reactive magnetron sputtering was used to create thin MoN and ITO films on single crystal CdTe substrates with different conductivity types. To manufacture test heterostructures, the following CdTe crystal substrates were used: 1) p-type conductivity, grown by Bridgman technique at low cadmium vapor pressures; 2) n-type conductivity, grown by Bridgman technique at high cadmium vapor pressures. During the deposition process, the argon pressure in the vacuum chamber was 0.4 Pa. The power of the magnetron was 30 W, the sputtering process continued 5 min at a substrate temperature of 150°C. I-V characteristics of the heterostructures at different temperatures were measured, the height of the potential barrier, the values of the series and shunt resistance were determined. Electrical and photoelectric properties of the heterostructures were studied, and the dominant mechanisms of current transfer at forward displacements was established. The tunnel-recombination mechanism was found to be the dominant mechanism of current transfer in the MoN/p-CdTe and MoN/n-CdTe heterostructures. It was shown that the photoelectric parameters for the MoN/p-CdTe heterostructure are higher than those for MoN/n-CdTe. MoN/p-CdTe heterojunctions have the following photoelectric parameters: open-circuit voltage Voc = 0.4 V, short-circuit current Isc = 24.6 mA/cm2 at an illumination intensity of 80 mW/cm2. This makes them a promising material for the manufacture of detectors of various radiation types.
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate 2021
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2021.1-2.33
work_keys_str_mv AT kovaliuktaras electricalandphotoelectricpropertiesofmonpcdteandmonncdteheterojunctions
AT solovanmykhaylo electricalandphotoelectricpropertiesofmonpcdteandmonncdteheterojunctions
AT maryanchukpavlo electricalandphotoelectricpropertiesofmonpcdteandmonncdteheterojunctions
AT kovaliuktaras električnítafotoelektričnívlastivostígeteroperehodívmonpcdtetamonncdte
AT solovanmykhaylo električnítafotoelektričnívlastivostígeteroperehodívmonpcdtetamonncdte
AT maryanchukpavlo električnítafotoelektričnívlastivostígeteroperehodívmonpcdtetamonncdte
first_indexed 2025-09-24T17:30:22Z
last_indexed 2025-12-17T12:06:28Z
_version_ 1851757102356234240