Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников
Ways of modifying known methods and devices for measuring the conductivity of semiconductor materials are considered. A block diagram of the device is presented, in which a differential measurement method and single‑channel processing of the measuring signal are implemented. The functioning of indiv...
Gespeichert in:
| Datum: | 2007 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2007
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.2.55 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipment| _version_ | 1860416282896105472 |
|---|---|
| author | Ascheulov, A. A. Buchkovskii, I. A. Romanyuk, I. S. |
| author_facet | Ascheulov, A. A. Buchkovskii, I. A. Romanyuk, I. S. |
| author_sort | Ascheulov, A. A. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2026-03-22T12:02:22Z |
| description | Ways of modifying known methods and devices for measuring the conductivity of semiconductor materials are considered. A block diagram of the device is presented, in which a differential measurement method and single‑channel processing of the measuring signal are implemented. The functioning of individual blocks and of the device as a whole is described. |
| first_indexed | 2026-03-23T02:00:26Z |
| format | Article |
| id | oai:tkea.com.ua:article-876 |
| institution | Technology and design in electronic equipment |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2026-03-23T02:00:26Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:tkea.com.ua:article-8762026-03-22T12:02:22Z Device for non contact measurement of semiconductor conductivity Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников Ascheulov, A. A. Buchkovskii, I. A. Romanyuk, I. S. semiconductor conductivity inductive sensor circuit quality factor electromagnetic field energy absorption электропроводность полупроводников индуктивный датчик добротность контура поглощение энергии электромагнитного поля Ways of modifying known methods and devices for measuring the conductivity of semiconductor materials are considered. A block diagram of the device is presented, in which a differential measurement method and single‑channel processing of the measuring signal are implemented. The functioning of individual blocks and of the device as a whole is described. Рассмотрены пути модификации известных методов и устройств для измерения электропроводности полупроводниковых материалов. Приведена структурная схема устройства, в котором реализован дифференциальный метод измерений и одноканальная обработка измерительного сигнала. Описано функционирование отдельных блоков и устройства в целом. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2007-04-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.2.55 Technology and design in electronic equipment; No. 2 (2007): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 55-57 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 2 (2007): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 55-57 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.2.55/796 Copyright (c) 2007 Ascheulov A. A., Buchkovskii I. A., Romanyuk I. S. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
| spellingShingle | электропроводность полупроводников индуктивный датчик добротность контура поглощение энергии электромагнитного поля Ascheulov, A. A. Buchkovskii, I. A. Romanyuk, I. S. Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| title | Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| title_alt | Device for non contact measurement of semiconductor conductivity |
| title_full | Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| title_fullStr | Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| title_full_unstemmed | Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| title_short | Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| title_sort | устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников |
| topic | электропроводность полупроводников индуктивный датчик добротность контура поглощение энергии электромагнитного поля |
| topic_facet | semiconductor conductivity inductive sensor circuit quality factor electromagnetic field energy absorption электропроводность полупроводников индуктивный датчик добротность контура поглощение энергии электромагнитного поля |
| url | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.2.55 |
| work_keys_str_mv | AT ascheulovaa devicefornoncontactmeasurementofsemiconductorconductivity AT buchkovskiiia devicefornoncontactmeasurementofsemiconductorconductivity AT romanyukis devicefornoncontactmeasurementofsemiconductorconductivity AT ascheulovaa ustrojstvodlâbeskontaktnogoizmereniâélektroprovodnostipoluprovodnikov AT buchkovskiiia ustrojstvodlâbeskontaktnogoizmereniâélektroprovodnostipoluprovodnikov AT romanyukis ustrojstvodlâbeskontaktnogoizmereniâélektroprovodnostipoluprovodnikov |