Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами

This work is devoted to the study of intrinsic and impurity point defects in sapphire substrates and raw materials using luminescence methods. It is proposed to employ luminescence under various types of excitation as a sensitive and informative rapid technique for detecting intrinsic and impurity p...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2006
Hauptverfasser: Bletskan, D. I., Pekar, Ya. M., Lukyanchuk, A. R.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2006
Schlagworte:
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.3.59
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Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment

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