Оптимизация аппаратно-программного обеспечения для автоматизации спектрофотометра СФ-20
The hardware and software for automating measurements and processing spectral characteristics of semiconductor structures using the SF-20 spectrophotometer have been optimized. An electrical interface circuit has been proposed. At the software level, a method of double filtering of measured signals...
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2006
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.2.19 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |