Комплексно-легированные эпитаксиальные структуры InP/InGaAsP для оптоэлектроники

The influence of complex doping with rare-earth elements (Yb, Gd) and aluminum on the electrophysical properties of InGaAsP layers grown by liquid-phase epitaxy has been studied. Using a technological approach based on complex doping, InP/InGaAsP epitaxial structures for photodetectors were obtained...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2026
1. Verfasser: Krukovsky, S. I.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2026
Schlagworte:
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.2.27
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Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment

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