Kladko, V. P., Kuchuk, A. V., Safryuk, N. V., Machulin, V. F., Belyaev, A. E., Konakova, R. V., & Yavich, B. S. (2010). X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kladko, V. P., A. V. Kuchuk, N. V. Safryuk, V. F. Machulin, A. E. Belyaev, R. V. Konakova, та B. S. Yavich. X-ray Diffraction Study of Deformation State in InGaN/GaN Multilayered Structures. 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kladko, V. P., et al. X-ray Diffraction Study of Deformation State in InGaN/GaN Multilayered Structures. 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.