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X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2010
Hauptverfasser:	V. P. Kladko, A. V. Kuchuk, N. V. Safryuk, V. F. Machulin, A. E. Belyaev, R. V. Konakova, B. S. Yavich
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2010
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349116
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