Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | I. M. Fodchuk, V. V. Dovganyuk, T. V. Litvinchuk, V. P. Kladko, M. V. Slobodian, Yo. Gudymenko, Z. Swiatek |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2010
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349248 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)
Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)
Research of recombination characteristics of Cz-Si implanted with iron ions
за авторством: D. V. Gamov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: D. V. Gamov, та інші
Опубліковано: (2013)
Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)
Research of recombination characteristics of Cz-Si implanted with iron ions
за авторством: D. V. Hamov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: D. V. Hamov, та інші
Опубліковано: (2013)
High-Resolution XPS Dataset for TIHgBr₃ Single Crystals
за авторством: O.Y. Khyzhun, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: O.Y. Khyzhun, та інші
Опубліковано: (2025)
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)
X-Ray Diffractometry of Lanthanum-Doped Iron—Yttrium Garnet Structures after Ion Implantation
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Experience of high-resolution electrical prospecting
за авторством: Nebrat, A. G., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Nebrat, A. G., та інші
Опубліковано: (2011)
Magnetron Transmitters for High-Resolution Radars
за авторством: Belikov, A. A., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Belikov, A. A., та інші
Опубліковано: (2013)
Magnetron Transmitters for High-Resolution Radars
за авторством: Belikov, A.A., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Belikov, A.A., та інші
Опубліковано: (2002)
Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation
за авторством: O. I. Liubchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: O. I. Liubchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
System of spectrometers of high resolution for the ”Salo” project
за авторством: Khvastunov, V.M., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Khvastunov, V.M., та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)
High-Temperature Diffractometry Study of Features of the FeCoNiMnCr Alloy Oxidation
за авторством: M. V. Karpets, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: M. V. Karpets, та інші
Опубліковано: (2014)
The Influence of Plastic Deformation on the Defect-Impurity State and Magnetic Properties of Silicon (Cz-Si)
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013)
Simple high-order integer cosine transform for high-resolution video coding
за авторством: L. A. Gnativ
Опубліковано: (2018)
за авторством: L. A. Gnativ
Опубліковано: (2018)
Features of radiation-defect annealing in n-Ge single crystals irradiated with high-energy electrons
за авторством: S. V. Lunov, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: S. V. Lunov, та інші
Опубліковано: (2019)
Features of radiation-defect annealing in n-Ge single crystals irradiated with high-energy electrons
за авторством: S. V. Luniov, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: S. V. Luniov, та інші
Опубліковано: (2019)
A High Time Resolution Receiver for Radio Emission Investigation
за авторством: Zakharenko, V. V., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Zakharenko, V. V., та інші
Опубліковано: (2012)
Difference Doppler Centroid Estimation Method with High Spatial Resolution
за авторством: Dukhopelnykova, Ie. V.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Dukhopelnykova, Ie. V.
Опубліковано: (2012)
HIGH-PRECISION MICROWAVE SPECTROMETER WITH SUB-DOPPLER SPECTRAL RESOLUTION
за авторством: Alekseev, E. A., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Alekseev, E. A., та інші
Опубліковано: (2015)
High-precision microwave spectrometer with sub-doppler spectral resolution
за авторством: E. A. Alekseev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: E. A. Alekseev, та інші
Опубліковано: (2014)
Radiation defects parameters determination in n-Ge single crystals irradiated by high-energy electrons
за авторством: S. V. Lunov, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: S. V. Lunov, та інші
Опубліковано: (2016)
High resolution study of temporal variations of induction vectors
за авторством: Klymkovych, T., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Klymkovych, T., та інші
Опубліковано: (2010)
High resolution study of temporal variations of induction vectors
за авторством: T. Klymkovych, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: T. Klymkovych, та інші
Опубліковано: (2010)
Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)
PIPELINE SIGNAL PROCESSING WITH HIGH RESOLUTION IN BOTH TIME AND FREQUENCY DOMAINS
за авторством: Sosnytskiy, S. V., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Sosnytskiy, S. V., та інші
Опубліковано: (2015)
Pipeline Signal Processing with High Resolution in Both Time and Frequency Domains
за авторством: S. V. Sosnitskij, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. V. Sosnitskij, та інші
Опубліковано: (2015)
Вплив пластичного деформування на дефектно-домішковий стан та магнетні властивості кремнію (Cz-Si)
за авторством: Макара, В.А., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Макара, В.А., та інші
Опубліковано: (2013)
Dynamical diffractometry of Structural defects in Nd3Ga5O12 garnet single crystal
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011)
The influence of high-temperature annealing on the temperature dependence of the pseudogap of YBa2Cu3O7–δ single crystals irradiated with high-energy electrons
за авторством: Ja. Khadzhaj, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Ja. Khadzhaj, та інші
Опубліковано: (2019)
Quantum property of solid hydrogen as revealed by high-resolution laser spectroscopy
за авторством: Hiroyuki Katsuki, та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Hiroyuki Katsuki, та інші
Опубліковано: (2003)
High-resolution spectroscopy of rare-earth ferroborates with a huntite structure
за авторством: M. N. Popova
Опубліковано: (2019)
за авторством: M. N. Popova
Опубліковано: (2019)
IR spectra of ɣ-irradiated nanocomposites ultra-high molecular weight polyethylene / α-SiO₂
за авторством: Ismayilova, R.S., та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: Ismayilova, R.S., та інші
Опубліковано: (2021)
Схожі ресурси
-
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010) -
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011) -
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016) -
Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Research of recombination characteristics of Cz-Si implanted with iron ions
за авторством: D. V. Gamov, та інші
Опубліковано: (2013)