$Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry$

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2010
Автори:	I. M. Fodchuk, V. V. Dovganyuk, T. V. Litvinchuk, V. P. Kladko, M. V. Slobodian, Yo. Gudymenko, Z. Swiatek
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2010
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349248
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Будьте першим, хто залишить коментар!