Methods of cluster analysis in sensor engineering: advantages and faults
Збережено в:
Дата: | 2010 |
---|---|
Автори: | Yu. V. Burlachenko, B. A. Snopok |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2010
|
Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349383 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Methods of cluster analysis in sensor engineering: advantages and faults
за авторством: Burlachenko, Yu.V., та інші
Опубліковано: (2010) -
Advantages and Faults in the Holodomor Theme Explaining by Foreign Researchers
за авторством: O. Stasiuk
Опубліковано: (2018) -
Clusters in the economy: assessment of backgrounds and advantages of functioning
за авторством: M. P. Voinarenko, та інші
Опубліковано: (2014) -
Advantages of Branch Clusters for Old Industrial Regions
за авторством: M. V. Boichenko
Опубліковано: (2020) -
Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits
за авторством: V. I. Khakhanov, та інші
Опубліковано: (2017)