Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO2 structure
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | I. R. Yatsunskiy, O. A. Kulinich |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2010
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349387 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO₂ structure
за авторством: Yatsunskiy, I.R., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Yatsunskiy, I.R., та інші
Опубліковано: (2010)
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si»
за авторством: Kulinich, О. А., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Kulinich, О. А., та інші
Опубліковано: (2012)
Vacuum wetting of SiO2-ceramics by silicon—containing melts
за авторством: V. V. Poluianska, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Poluianska, та інші
Опубліковано: (2016)
Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012)
Микроскопическая природа оптических центров Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅, Lu₂SiO₅, Gd₂SiO₅
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2002)
Селективная спектроскопия примесных ионов Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅ , Gd₂SiO₅ , Lu₂SiO₅
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2000)
Relaxation of photodarkening in SiO-As₂(S,Se)₃ composite layers
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (1999)
Дослідження взаємодії еритроцитів з пірогенними оксидами SiO2, Al2O3/SiO2 та TiO2/SiO2 шляхом вимірювання параметрів світлорозсіювання
за авторством: Gerashchenko, I. I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Gerashchenko, I. I., та інші
Опубліковано: (2010)
Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO₂ grown by high temperature annealing technology of SiOx layer, X<2
за авторством: Bunak, S.V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Bunak, S.V., та інші
Опубліковано: (2010)
Effect of pressure on the properties of Al SiO2 n-Si Ni structures
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2012)
Properties of SiO₂-GaAs and Au-Ti-SiO₂-GaAs structures used in production of transmission lines
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2002)
Modification of properties of the glass-Si₃N₄-Si-SiO₂ structure at laser treatment
за авторством: Konakova, R.V., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Konakova, R.V., та інші
Опубліковано: (2009)
Water bounding peculiarities in SiO2 / laevomycetin and SiO2 / laevomycetin / AM1 composite systems
за авторством: T. V. Krupskaja, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: T. V. Krupskaja, та інші
Опубліковано: (2018)
Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2012)
Проявление квазисимметрии катионных узлов Gd₂SiO₅, ₂SiO₅ и Lu₂SiO₅ в спектрах примесного иона Pr³⁺
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2001)
Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO2 grown by high temperature annealing technology of SiOX layer, X&lt;2
за авторством: S. V. Bunak, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: S. V. Bunak, та інші
Опубліковано: (2010)
Роль поверхности в формировании свойств пирогенных нанокомпозитов SiO₂-Al₂O₃, SiO₂-ТіO₂ и Al₂O₃-SiO₂-ТіO₂
за авторством: Горбик, П.П., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Горбик, П.П., та інші
Опубліковано: (2006)
Influence of electron-phonon interaction on Wannier-Stark effect in macroporous silicon structures with SiO2 nanocoatings
за авторством: L. A. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: L. A. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2014)
Electron transport through nanocomposite SiO2(Si) films containing Si nanocrystals
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2016)
Electron states at the Si–SiO₂ boundary (Review)
за авторством: Primachenko, V.E., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Primachenko, V.E., та інші
Опубліковано: (2005)
Effect of pressure on the properties of Al-SiO₂-n-Si<Ni> structures
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2012)
Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and sathodoluminescence in Si/SiO2 structure
за авторством: L. P. Steblenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: L. P. Steblenko, та інші
Опубліковано: (2011)
Вторичные реакции этилена в синтезе Фишера–Тропша на Co/SiO2*Co(II)-, Co/SiO2*V(V)-и Co/SiO2*Zr(IV)-катализаторах
за авторством: Якубович, М.Н., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Якубович, М.Н., та інші
Опубліковано: (2001)
Wannier-Stark electro-optical effect and photonic modes in 2D macroporous silicon structures with SiO2 nanocoatings
за авторством: L. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: L. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2013)
Specific features of surface research of ZnO–SiO2 films by multifractal analysis
за авторством: N. O. Balytska, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: N. O. Balytska, та інші
Опубліковано: (2023)
Quantum chemical simulation of MoO3 dispergation on hydroxylated SiO2 surface
за авторством: D. B. Nasiedkin, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: D. B. Nasiedkin, та інші
Опубліковано: (2021)
Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2002)
Synthesis of nanosized TiO2 on AL2O3/SiO2/TiO2 surface
за авторством: Ye. M. Pakhlov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ye. M. Pakhlov, та інші
Опубліковано: (2013)
Thermal conductivity of argon–SiO2 cryocrystal nanocomposite
за авторством: R. V. Nikonkov, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: R. V. Nikonkov, та інші
Опубліковано: (2016)
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate
за авторством: E. G. Bortchagovsky, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. G. Bortchagovsky, та інші
Опубліковано: (2012)
Structural properties of nanocomposite SiO2(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2011)
Вплив вмісту металів на структурні характеристики неорганічних нанокомпозитів MxOy/SiO2 та C/MxOy/SiO2
за авторством: Bogatyrev, V. M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Bogatyrev, V. M., та інші
Опубліковано: (2011)
Thermodynamic properties of melts of CaO-SiO2 system
за авторством: I. A. Goncharov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: I. A. Goncharov, та інші
Опубліковано: (2015)
Transformation of SiOx films into nanocomposite SiO2(Si) films under thermal and laser annealing
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)
The analysis of structurally-chemical state and classification of oxide and metal phases of the calcium-silicon-titan-oxygenbsystem Duplex-system CaO-SiO2-TiO2/Ca-Si-Ti. The report 2
за авторством: B. F. Belov, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: B. F. Belov, та інші
Опубліковано: (2016)
Electron transport through nanocomposite SiO₂(Si) films containing Si nanocrystals
за авторством: Bratus, O.L., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Bratus, O.L., та інші
Опубліковано: (2016)
The analysis of structurally-chemical condition and classification oxide and metal phases of the system iron-silicon-bariumoxygen. Duplex-system FeO-SiO2-BaO / Fe-Si-Ba. The report 2
за авторством: B. F. Belov, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: B. F. Belov, та інші
Опубліковано: (2016)
STRUCTURE-FUNCTIONAL SELF-ORGANIZATION OF ZrO2–SiO2:Sn(IV) SYSTEM
за авторством: Trachevskiy, Volodymyr, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: Trachevskiy, Volodymyr, та інші
Опубліковано: (2022)
Схожі ресурси
-
Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO₂ structure
за авторством: Yatsunskiy, I.R., та інші
Опубліковано: (2010) -
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si»
за авторством: Kulinich, О. А., та інші
Опубліковано: (2012) -
Vacuum wetting of SiO2-ceramics by silicon—containing melts
за авторством: V. V. Poluianska, та інші
Опубліковано: (2016) -
Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012) -
Микроскопическая природа оптических центров Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅, Lu₂SiO₅, Gd₂SiO₅
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2002)