Manual X-ray fluorescent spectrometer for express and precise analysis of metals on product
Збережено в:
Дата: | 2010 |
---|---|
Автори: | M. M. Livitskij, Ja. P. Grytskiv |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2010
|
Назва видання: | Electrometallurgy Today |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000471070 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
HIGH-PRECISION MICROWAVE SPECTROMETER WITH SUB-DOPPLER SPECTRAL RESOLUTION
за авторством: Alekseev, E. A., та інші
Опубліковано: (2015) -
High-precision microwave spectrometer with sub-doppler spectral resolution
за авторством: E. A. Alekseev, та інші
Опубліковано: (2014) -
Features of X-ray fluorescence analysis for determining the composition of vacuum arc coatings of nitrides
за авторством: E. N. Reshetnjak
Опубліковано: (2013) -
Determination of the nuclear radius parameter using the γ-ray spectrometer
за авторством: P. N. Patil, та інші
Опубліковано: (2021) -
Peculiarities of fluorescence of thin organic films in the field of soft X-ray radiation
за авторством: L’vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)