The structure of oxide film on the porous silicon surface
Збережено в:
| Дата: | 2020 |
|---|---|
| Автори: | O. I. Zavalistyi, O. V. Makarenko, V. A. Odarych, A. L. Yampolskyi |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2020
|
| Назва видання: | Ukrainian Journal of Physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001089428 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
The structure of oxide film on the porous silicon surface
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)
Spectroscopy of films of polysilanes/porous silicon and titanium oxides nanocomposites
за авторством: N. I. Ostapenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: N. I. Ostapenko, та інші
Опубліковано: (2011)
Peculiarities of nanocrystalline silicon films growth on porous anodic alumina surface
за авторством: P. V. Parfenyuk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: P. V. Parfenyuk, та інші
Опубліковано: (2017)
Peculiarities of nanocrystalline silicon films growth on porous anodic alumina surface
за авторством: Parfenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Parfenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2017)
Optical parameters of nanocomposite films of porous aluminium oxide with quantum dots of silicon or germanium
за авторством: Ju. V. Ushenin, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ju. V. Ushenin, та інші
Опубліковано: (2013)
Electrical properties of silicon-oxide heterostructures on the basis of porous silicon
за авторством: I. B. Olenych, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: I. B. Olenych, та інші
Опубліковано: (2017)
Electrical properties of silicon-oxide heterostructures on the basis of porous silicon
за авторством: I. B. Olenych, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: I. B. Olenych, та інші
Опубліковано: (2017)
Electronic properties of silicon surface at different oxide film conditions
за авторством: Kirillova, S.I., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Kirillova, S.I., та інші
Опубліковано: (2001)
Functionalization and nanostructurization of surface layers of porous silicon
за авторством: Ye. I. Zubko
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ye. I. Zubko
Опубліковано: (2013)
Sensing to gases of structures silicide cobalt-porous silicon-silicon
за авторством: I. V. Belousov, та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: I. V. Belousov, та інші
Опубліковано: (2006)
Photosensitive porous silicon based structures
за авторством: Svechnikov, S.V., та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: Svechnikov, S.V., та інші
Опубліковано: (1998)
Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Electrostatic Field Tensities near Irregularities of Porous Silicon Surface
за авторством: Terebinska, M.I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Terebinska, M.I., та інші
Опубліковано: (2010)
Cadmium sulfide−porous silicon nanocomposite structures
за авторством: M. O. Davydenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. O. Davydenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Cadmium sulfide−porous silicon nanocomposite structures
за авторством: N. A. Davidenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: N. A. Davidenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Electrophysical properties of meso-porous silicon free standing films modified with palladium
за авторством: A. I. Manilov, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: A. I. Manilov, та інші
Опубліковано: (2011)
Electrophysical properties of meso-porous silicon free standing films modified with palladium
за авторством: Manilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Manilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2011)
Effect of buffer layer of porous silicon carbide on the interface with the oxide layer (review)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2012)
Synthesis of charged silica films of porous structure
за авторством: Zharkikh, Yu.S., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Zharkikh, Yu.S., та інші
Опубліковано: (2008)
Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2005)
Quantum-sized effects in oxidized silicon structures with surface II-VI nanocrystals
за авторством: L. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: L. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2014)
Evidence for photochemical transformations in porous silicon
за авторством: Shevchenko, V.B., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Shevchenko, V.B., та інші
Опубліковано: (1999)
Diagnostic of localized surface plasmon resonances on porous gold films
за авторством: S. P. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. P. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2015)
Photoelectric properties of metal-porous silicon-silicon planar heterostructures
за авторством: Brodovoi, A.V., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Brodovoi, A.V., та інші
Опубліковано: (2002)
Photoluminescence of nanocrystalline cdte, introduced into porous silicon
за авторством: H. A. Pashchenko, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: H. A. Pashchenko, та інші
Опубліковано: (2021)
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
CdS films on the porous substruction of Si obtained by chemical surface deposition
за авторством: A. F. Diadenchuk, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. F. Diadenchuk, та інші
Опубліковано: (2018)
The influence of ion implantation by phosphorous on structural changes in porous silicon
за авторством: Swiatek, Z., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Swiatek, Z., та інші
Опубліковано: (2004)
Changing the conductivity of porous silicon with silver nanoparticles/silicon structures when detecting hydrogen peroxide
за авторством: Yu. Kutova, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. Kutova, та інші
Опубліковано: (2018)
Photovoltage and photocurrent spectroscopy of luminescent porous silicon
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2003)
The nature of red emission in porous silicon
за авторством: Khomenkova, L.Yu., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Khomenkova, L.Yu., та інші
Опубліковано: (2005)
The use of porous SiOx films in sensors based on surface plasmon resonance
за авторством: Ye. Vakariuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ye. Vakariuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Spectral dependence of the photomagnetic effect in porous silicon
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2001)
Optical properties of submicron silicon oxide films after high-temperature processing
за авторством: V. V. Litvinenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. V. Litvinenko, та інші
Опубліковано: (2011)
Features of electrical charge transfer in porous silicon
за авторством: Monastyrskii, L.S.
Опубліковано: (2001)
за авторством: Monastyrskii, L.S.
Опубліковано: (2001)
Electrical and photoelectrical properties of iodine modified porous silicon on silicon substrates
за авторством: I. B. Olenych
Опубліковано: (2012)
за авторством: I. B. Olenych
Опубліковано: (2012)
Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)
Passivation of silicon surface by ultrathin dielectric film in M/Si/nematic/ITO structures
за авторством: Gritsenko, M.I., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Gritsenko, M.I., та інші
Опубліковано: (2004)
Planar waveguide structures based on nanoporous aluminium oxide films in surface plasmon resonance
за авторством: Ju. V. Ushenin, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Ju. V. Ushenin, та інші
Опубліковано: (2011)
Схожі ресурси
-
The structure of oxide film on the porous silicon surface
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020) -
Spectroscopy of films of polysilanes/porous silicon and titanium oxides nanocomposites
за авторством: N. I. Ostapenko, та інші
Опубліковано: (2011) -
Peculiarities of nanocrystalline silicon films growth on porous anodic alumina surface
за авторством: P. V. Parfenyuk, та інші
Опубліковано: (2017) -
Peculiarities of nanocrystalline silicon films growth on porous anodic alumina surface
за авторством: Parfenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2017) -
Optical parameters of nanocomposite films of porous aluminium oxide with quantum dots of silicon or germanium
за авторством: Ju. V. Ushenin, та інші
Опубліковано: (2013)