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Microstructure of intergranular boundaries in polycrystalline silicon and its effect on the transport of charge carriers

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2010
Hauptverfasser:	B. M. Abdurakhmanov, L. O. Olimov, F. Abdurazakov
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2010
Schriftenreihe:	Physical surface engineering
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877896
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