Stervoedov, A. N., Beresnev, V. M., & Sergeeva, N. V. (2010). Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Stervoedov, A. N., V. M. Beresnev, та N. V. Sergeeva. Features of X-ray Photoelectron Spectroscopy for Determining the Thickness of Ultrathin Films. 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Stervoedov, A. N., et al. Features of X-ray Photoelectron Spectroscopy for Determining the Thickness of Ultrathin Films. 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.