Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films

Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2010
Автори:	A. N. Stervoedov, V. M. Beresnev, N. V. Sergeeva
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2010
Назва видання:	Physical surface engineering
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877899
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)

TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)

X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016)

The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)

Investigation of the optical coatings on the dkdp single ctystals by x-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Loya, V.Yu., та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)

X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)

X-ray photoelectron spectroscopy of nanopowders of ZrO₂-Y₂O₃-Cr₂O₃ compounds
за авторством: Korduban, A.M., та інші
Опубліковано: (2007)

X-ray emission and photoelectron spectroscopy studies of interaction of nanocrystalline TiN and TiB₂ after highpressure sintering
за авторством: Bykov, A.I., та інші
Опубліковано: (2007)

Ion-beam deposition of ultrathin metall nitride and oxynitride films process stabilization
за авторством: A. V. Derevjanko, та інші
Опубліковано: (2008)

X-ray photoelectron spectra and electronic structure of quasi-one-dimensional SbSeI crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2007)

Electronic Structure of GdMeO3 (Me = V, Ni) Oxides: X-Ray Photoelectron and X-Ray Fluorescence Spectra and Band Structure Calculations
за авторством: V. M. Uvarov, та інші
Опубліковано: (2013)

Complex conductance of ultrathin La₂₋xSrxCuO₄ films and heterostructures
за авторством: Gasparov, V.A., та інші
Опубліковано: (2015)

Structural and physical properties of ultrathin bismuth films
за авторством: V. L. Karbivskyy, та інші
Опубліковано: (2021)

X-ray photoelectron spectra and features of the electronic-energy structure of oxygen-stabilized phases of Zr4Fe2O and Zr4Ni2O
за авторством: A. A. Lavrentev, та інші
Опубліковано: (2014)

Complex conductance of ultrathin La2–xSrxCuO4 films and heterostructures
за авторством: V. A. Gasparov, та інші
Опубліковано: (2015)

The Structure Features of Synthetic Apatites With REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: II. Fluorhydroxyapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2016)

The Structure Features of Synthetic Apatites with REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: I. Hydroxylapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2015)

X-RAY luminescence properties of thin organic films
за авторством: L`vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)

Features of X-ray fluorescence analysis for determining the composition of vacuum arc coatings of nitrides
за авторством: E. N. Reshetnjak
Опубліковано: (2013)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Temperature dependence effect of viscosity on ultrathin lubricant film melting
за авторством: Khomenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2006)

Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
за авторством: Protsenko, I.Yu., та інші
Опубліковано: (2006)

A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
за авторством: Bigun, R.I., та інші
Опубліковано: (2010)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Impact of Surface Inhomogeneities on Conditions for Charge Transfer in Ultrathin Films of Metals
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2014)

Molecular dynamics simulations of ultrathin water film confined between flat diamond plates
за авторством: Khomenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2008)

Suppression of the superconductivity in ultrathin amorphous Mo₇₈Ge₂₂ films observed by STM
за авторством: Lotnyk, D., та інші
Опубліковано: (2017)

Technological features of thick-film electric heating elements
за авторством: Ye. Ya. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2020)

Mechanical modification of electronic properties of ultrathin β-Ga2O3 films
за авторством: R. M. Balabai, та інші
Опубліковано: (2021)

Mechanical modification of electronic properties of ultrathin β-Ga2O3 films
за авторством: R. M. Balabai, та інші
Опубліковано: (2021)

X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2011)

Peculiarities of fluorescence of thin organic films in the field of soft X-ray radiation
за авторством: L’vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)

Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics
за авторством: Ivanov, V., та інші
Опубліковано: (2012)

Temperature dependences of surface magnetoelastic constants of ultrathin Fe/GaAs (001) films
за авторством: Żuberek, R., та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray absorption near edge spectroscopy of thermochromic phase transition in CuMoO₄
за авторством: Jonane, I., та інші
Опубліковано: (2018)

X-ray spectroscopy studies of the electronic structure and band-structure calculations of cubic TaCxN1-x carbonitrides
за авторством: Lavrentyev, A.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Passivation of silicon surface by ultrathin dielectric film in M/Si/nematic/ITO structures
за авторством: Gritsenko, M.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)