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Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2010
Hauptverfasser:	A. N. Stervoedov, V. M. Beresnev, N. V. Sergeeva
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2010
Schriftenreihe:	Physical surface engineering
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877899
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