Investigation of composition and structure of films based on Si-Ge alloys by nuclear-physical methods of analysis on proton beams
Збережено в:
Дата: | 2010 |
---|---|
Автори: | V. V. Levenets, A. A. Shchur, B. M. Shirokov |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2010
|
Назва видання: | Physical surface engineering |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877905 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Studying on a beam of protons film of alloy Si-Ge, received by method CVD
за авторством: I. K. Kovalchuk, та інші
Опубліковано: (2007) -
Investigations on nuclear physics with accelerated beams of polarized ions at the NSC KIPT
за авторством: Slabospitsky, R.P., та інші
Опубліковано: (2003) -
Application of nuclear physics methods and NSC KIPT accelerators for investigation of solid composition
за авторством: Skakun, N.A., та інші
Опубліковано: (2003) -
Development of a nuclear diagnosing proton beam for a collective ion accelerator
за авторством: Dikiy, N.P., та інші
Опубліковано: (2006) -
Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films
за авторством: S. A. Iliash, та інші
Опубліковано: (2017)