Зображення обкладинки

Investigation of composition and structure of films based on Si-Ge alloys by nuclear-physical methods of analysis on proton beams

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2010
Автори:	V. V. Levenets, A. A. Shchur, B. M. Shirokov
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2010
Назва видання:	Physical surface engineering
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000877905
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Studying on a beam of protons film of alloy Si-Ge, received by method CVD
за авторством: I. K. Kovalchuk, та інші
Опубліковано: (2007)

Investigations on nuclear physics with accelerated beams of polarized ions at the NSC KIPT
за авторством: Slabospitsky, R.P., та інші
Опубліковано: (2003)

Development of a nuclear diagnosing proton beam for a collective ion accelerator
за авторством: Dikiy, N.P., та інші
Опубліковано: (2006)

Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films
за авторством: S. A. Iliash, та інші
Опубліковано: (2017)

Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films
за авторством: Iliash, S.A., та інші
Опубліковано: (2017)

The effect of strain on the thermodynamic properties of Ge-Si, Ge-Sn, Si-Sn, Si-C thin solid films
за авторством: Deibuk, V.G., та інші
Опубліковано: (2002)

Investigations of physical mechanisms of metal-insulator transition in highly strained n-Si and n-Ge crystals
за авторством: Budzulyak, S.I., та інші
Опубліковано: (2003)

Structure and physical characteristics of ohmic contacts based on Fe and Ge films
за авторством: Vlasenko, О.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Modernization of the analytical nuclear-physical complex sokil
за авторством: Karpus, S.G., та інші
Опубліковано: (2023)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: Amer, H.H., та інші
Опубліковано: (2011)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: H. H. Amer, та інші
Опубліковано: (2011)

Proton cyclotron for beam therapy application
за авторством: Alenitsky, Y.G., та інші
Опубліковано: (2008)

Investigation of dislocations in Ge single crystals by scanning electron beam
за авторством: Nadtochy, V., та інші
Опубліковано: (2004)

The experimental determination of heavy metal nuclei fission reactions cross sections at 0.66 GeV protons beam
за авторством: Zhuk, I., та інші
Опубліковано: (2017)

Nuclide composition dynamics in a subcritical reactor driven by a proton beam
за авторством: Demchenko, P.O., та інші
Опубліковано: (2004)

Experimental studies of the nuclear-physical characteristics of the extended uranium target irradiated by relativistic protons, deutrons and ¹²C nuclei
за авторством: Zhadan, A.A., та інші
Опубліковано: (2020)

Analytical representation of ionization cross sections of K-shells of lanthanides by accelerated protons
за авторством: V. V. Levenets, та інші
Опубліковано: (2012)

Morphology and optical constants of ge nanocrystalline films deposited on Si(001)
за авторством: Yu. M. Kozyriev, та інші
Опубліковано: (2016)

Electron beam melting of zirconiumhafnium binary alloy of nuclear purity
за авторством: V. A. Savenko, та інші
Опубліковано: (2016)

Intense proton beam focusing by plasma lens
за авторством: Belan, V., та інші
Опубліковано: (2000)

Erhic – electron-proton collider with polarized beams
за авторством: Berkaev, D.E., та інші
Опубліковано: (2004)

Method of proton polarization measurements in investigations of photon interaction with nucleons and nuclei at 2 GeV linac (NSC KIPT)
за авторством: Konovalov, O.G., та інші
Опубліковано: (2003)

Photoelectric properties of SiGe films covered with amorphous- and polycrystalline-silicon layers
за авторством: V. Shmid, та інші
Опубліковано: (2019)

Photoelectric properties of SiGe films covered with amorphous- and polycrystalline-silicon layers
за авторством: V. Shmid, та інші
Опубліковано: (2019)

Monte-Carlo simulation of quasi-infinite depleted uranium target irradiated by 1…10 GeV deuteron and proton beam
за авторством: Voronko, V., та інші
Опубліковано: (2021)

Investigation of SiC films obtained on a porous-Si/Si substrate
за авторством: V. V. Kidalov, та інші
Опубліковано: (2024)

Microstructure of thin Si−Sn composite films
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)

Proton beam writing: world experience and prospectives in Ukraine
за авторством: H. Y. Polozhii, та інші
Опубліковано: (2023)

Microstructure of thin Si−Sn composite films
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)

Investigations of the temperature dependence of the width prohibited zone Si and Ge using the model
за авторством: Ju. Sharibaev
Опубліковано: (2013)

Hopeful high-strength casting alloys based on Al―Mg―Ge(Si) ternary systems
за авторством: N. P. Korzhova, та інші
Опубліковано: (2020)

Investigation of properties of cobalt-based composite alloys
за авторством: M. V. Kindrachuk, та інші
Опубліковано: (2011)

Universal BCT monitor for INR proton Linac pulse beam
за авторством: Reinhardt-Nikoulin, P., та інші
Опубліковано: (2006)

Monitoring system for proton beam transport to the irradiation facilitie
за авторством: Skorkin, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Development of linear proton accelerators with the high average beam power
за авторством: Bomko, V.A., та інші
Опубліковано: (2001)

Effect of dislocations in relaxed MBE SiGe layers on the electrical behavior of Si/SiGe heterostructures
за авторством: Horvath, Zs.J., та інші
Опубліковано: (2004)

Measurements of LET spectra of the JINR phasotron radiotherapy proton beam
за авторством: Kubančák, J., та інші
Опубліковано: (2013)

Probe formation in proton beam writing facility at IAP NASU
за авторством: Lapin, O.S., та інші
Опубліковано: (2015)

Nuclear zirconium – the basis of alloys with improved neutron-physical, radiation, and corrosion properties
за авторством: Mukhachev, A.P., та інші
Опубліковано: (2020)

Charge transition phenomena in the heterostructure crystalline Si-Bi-amorphous film Ge₃₃As₁₂Se₅₅
за авторством: Kondrat, O., та інші
Опубліковано: (2004)