The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | K. H. Lopatko, Ye. H. Aftandiliants, Ya. V. Zaulychnyi, M. V. Karpets |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2009
|
| Назва видання: | Metal Science and Treatment of Metals |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000411345 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016) -
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008) -
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010) -
X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005) -
Analysis of Ag2CdSnS4 Compound by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Tkach, Vira, та інші
Опубліковано: (2014)