Зображення обкладинки

Photometric monitoring of etching rate of thin dielectric films

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2006
Автори:	S. E. Semenova, E. I. Semenov
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2006
Назва видання:	Technology and design in electronic equipment
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455196
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Automation of measurements of the rate of thin films chemical etching
за авторством: Іваницький, В. П., та інші
Опубліковано: (2024)

Photoinduced etching of thin films of chalcogenide glasses
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2012)

The bias voltage and its influence on the etching rate of silicon
за авторством: Fedorovich, О.А., та інші
Опубліковано: (2015)

Variable range hopping in thin film with large dielectric constant
за авторством: B. I. Shklovskii
Опубліковано: (2017)

Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)

Measurement of the photometric characteristics of LEDs
за авторством: Nazarenko, L.A., та інші
Опубліковано: (2015)

Detection of Deterministically Moderated Signals in Astronomical Photometric Systems
за авторством: Zhilin, E. I., та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of intensive etching processes on structure and properties of carbon nitride films
за авторством: Shalaev, R.V., та інші
Опубліковано: (2008)

Simultaneous photometric determination of peroxomonosulfuric acid and nitrite
за авторством: V. Zinchuk
Опубліковано: (2013)

Influence of Annealing Environment on the Ni Diffusion Rate to Surface of the Thin-Film Au/Ni System
за авторством: S. I. Sydorenko, та інші
Опубліковано: (2012)

The formation of photometric studies of artificial Earth satellites in Ukraine
за авторством: I. Hrushytska
Опубліковано: (2018)

Investigation of the process of microrelief structures formation in chromium films based on the method of chemical etching
за авторством: A. V. Pankratova, та інші
Опубліковано: (2021)

Investigation of the process of microrelief structures formation in chromium films based on the method of chemical etching
за авторством: Панкратова, А. В., та інші
Опубліковано: (2021)

Obtaining porous silicon suitable for sensor technology using MacEtch nonelectrolytic etching
за авторством: I. R. Jatsunskij
Опубліковано: (2013)

Development and Conformity Assessment of ECG-Photometric Complex Software
за авторством: V. M. Budnyk, та інші
Опубліковано: (2021)

Investigation of the influence of oxygen on the rate and anisotropy of deep etching of silicon in the plasma-chemical reactor with the controlled magnetic field
за авторством: V. V. Gladkovskij, та інші
Опубліковано: (2017)

Dielectric function of a quantum-confined thin film with a modified Pцschel–Teller potential
за авторством: Kh. A. Gasanov, та інші
Опубліковано: (2018)

Dielectric function of a quantum-confined thin film with a modified Pцschel–Teller potential
за авторством: Kh. A. Gasanov, та інші
Опубліковано: (2018)

Formation of thin film Cr-N composites under ion bombardment at low rates of chromium deposition
за авторством: Guglya, A., та інші
Опубліковано: (2006)

Absorption of hydrogen by thin films
за авторством: V. V. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2015)

Photometric observations of Epsilon Aurigae during the eclipse of 2009-2011
за авторством: K. Ilkiewicz, та інші
Опубліковано: (2013)

Results of 5-year photometric monitoring of the intermediate polar V2306 Cygni: correction of the orbital period and evidence of 2-day periodicity
за авторством: V. Breus, та інші
Опубліковано: (2015)

Results of 5-year photometric monitoring of the intermediate polar V2306 Cygni: correction of the orbital period and evidence of 2-day periodicity
за авторством: Breus, V., та інші
Опубліковано: (2015)

Optimum surface relief restoration from photometric and altimetric data combined
за авторством: Ju. V. Kornienko, та інші
Опубліковано: (2019)

Modeling of Photometric Effect Caused by Planet Motion in the Red Giant Atmosphere
за авторством: Pavlenko, D. A., та інші
Опубліковано: (2012)

Size effects in thin PbSe films
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)

Photometric variability of the 1H1936+541 star in 2008-2014
за авторством: A. O. Simon, та інші
Опубліковано: (2014)

Photometric variability of the 1H1936+541 star in 2008-2014
за авторством: Simon, A.O., та інші
Опубліковано: (2014)

Size effects in lead telluride thin films and thermoelectric properties
за авторством: S. I. Olkhovskaya, та інші
Опубліковано: (2013)

Obtaining periodic layers GaAs by electrochemical etching
за авторством: A. F. Djadenchuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Optical properties of Ge-As-S thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2009)

Microstructure of thin Si−Sn composite films
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)

Energy band gap and the refractive index for polyaniline thin films of polyaniline in thin films on polyethylene surface
за авторством: Yu. Stetsiv, та інші
Опубліковано: (2022)

Experimental research of ICP reactor for plasma-chemical etching
за авторством: Dudin, S.V., та інші
Опубліковано: (2006)

Dc glow discharge for synthesis diamond films with high growth rate
за авторством: Gritsyna, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)

Frequency-dependent dielectric coefficients of TlInS₂ amorphous films
за авторством: Mustafaeva, S.N., та інші
Опубліковано: (2007)

Size effects in chlorine doped PbSe thin films
за авторством: S. I. Menshikova, та інші
Опубліковано: (2015)

Compiled catalogue of the MK spectral classifications, including astrometric and photometric data and its application
за авторством: Rybka, S.P.
Опубліковано: (2005)