Зображення обкладинки

Photometric monitoring of etching rate of thin dielectric films

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2006
Автори:	S. E. Semenova, E. I. Semenov
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2006
Назва видання:	Technology and design in electronic equipment
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455196
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Automation of measurements of the rate of thin films chemical etching
за авторством: Іваницький, В. П., та інші
Опубліковано: (2024)

Photoinduced etching of thin films of chalcogenide glasses
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2012)

The bias voltage and its influence on the etching rate of silicon
за авторством: Fedorovich, О.А., та інші
Опубліковано: (2015)

Variable range hopping in thin film with large dielectric constant
за авторством: B. I. Shklovskii
Опубліковано: (2017)

Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)

Measurement of the photometric characteristics of LEDs
за авторством: Nazarenko, L.A., та інші
Опубліковано: (2015)

Deposition of TiO₂ thin films using atmospheric dielectric barrier discharge
за авторством: Klenko, Y., та інші
Опубліковано: (2008)

Detection of Deterministically Moderated Signals in Astronomical Photometric Systems
за авторством: Zhilin, E. I., та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of intensive etching processes on structure and properties of carbon nitride films
за авторством: Shalaev, R.V., та інші
Опубліковано: (2008)

Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film
за авторством: Oberemok, O.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Influence of Annealing Environment on the Ni Diffusion Rate to Surface of the Thin-Film Au/Ni System
за авторством: S. I. Sydorenko, та інші
Опубліковано: (2012)

Simultaneous photometric determination of peroxomonosulfuric acid and nitrite
за авторством: V. Zinchuk
Опубліковано: (2013)

The formation of photometric studies of artificial Earth satellites in Ukraine
за авторством: I. Hrushytska
Опубліковано: (2018)

Absorption of hydrogen by thin films
за авторством: V. V. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2015)

Obtaining porous silicon suitable for sensor technology using MacEtch nonelectrolytic etching
за авторством: I. R. Jatsunskij
Опубліковано: (2013)

Dielectric function of a quantum-confined thin film with a modified Pцschel–Teller potential
за авторством: Kh. A. Gasanov, та інші
Опубліковано: (2018)

Dielectric function of a quantum-confined thin film with a modified Pцschel–Teller potential
за авторством: Kh. A. Gasanov, та інші
Опубліковано: (2018)

Investigation of the process of microrelief structures formation in chromium films based on the method of chemical etching
за авторством: A. V. Pankratova, та інші
Опубліковано: (2021)

Formation of thin film Cr-N composites under ion bombardment at low rates of chromium deposition
за авторством: Guglya, A., та інші
Опубліковано: (2006)

Formation of thin film Cr-N composites under ion bombardment at low rates of chromium deposition
за авторством: Guglya, A., та інші
Опубліковано: (2006)

Investigation of the process of microrelief structures formation in chromium films based on the method of chemical etching
за авторством: Панкратова, А. В., та інші
Опубліковано: (2021)

Investigation of the influence of oxygen on the rate and anisotropy of deep etching of silicon in the plasma-chemical reactor with the controlled magnetic field
за авторством: V. V. Gladkovskij, та інші
Опубліковано: (2017)

Development and Conformity Assessment of ECG-Photometric Complex Software
за авторством: V. M. Budnyk, та інші
Опубліковано: (2021)

Monitoring the flow rate of water in the supercritical convection loop
за авторством: Bakai, A.S., та інші
Опубліковано: (2016)

The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2007)

Size effects in thin PbSe films
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)

Results of 5-year photometric monitoring of the intermediate polar V2306 Cygni: correction of the orbital period and evidence of 2-day periodicity
за авторством: V. Breus, та інші
Опубліковано: (2015)

Results of 5-year photometric monitoring of the intermediate polar V2306 Cygni: correction of the orbital period and evidence of 2-day periodicity
за авторством: Breus, V., та інші
Опубліковано: (2015)

Photometric observations of Epsilon Aurigae during the eclipse of 2009-2011
за авторством: K. Ilkiewicz, та інші
Опубліковано: (2013)

Photometric observations of Epsilon Aurigae during the eclipse of 2009-2011
за авторством: Iłkiewicz, K., та інші
Опубліковано: (2013)

The thin structure of waveguide dielectric accelerating system elements
за авторством: Bryzgalov, G.A., та інші
Опубліковано: (2001)

Optimum surface relief restoration from photometric and altimetric data combined
за авторством: Ju. V. Kornienko, та інші
Опубліковано: (2019)

Modeling of Photometric Effect Caused by Planet Motion in the Red Giant Atmosphere
за авторством: Pavlenko, D. A., та інші
Опубліковано: (2012)

The influence of depolarization field on dielectric and pyroelectric properties of ferroelectric films
за авторством: Glinchuk, M.D., та інші
Опубліковано: (2002)

Size effects in lead telluride thin films and thermoelectric properties
за авторством: S. I. Olkhovskaya, та інші
Опубліковано: (2013)

Conductivity of the Bi₁₂SiO₂₀ thin ﬁlms
за авторством: Plyaka, S.N., та інші
Опубліковано: (1999)

Optical properties of Ge-As-S thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2009)

Size effects in thin n-PbTe films
за авторством: Men'shikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2014-12-29)