The diagnostics of semiconductor structures at development and manufacturing products
Збережено в:
Дата: | 2002 |
---|---|
Автори: | L. D. Bujko, V. N. Ponomar, A. A. Soloninko |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2002
|
Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455302 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
A universal automated complex for control and diagnostics of semiconductor devices and structures
за авторством: Konakova, R.V., та інші
Опубліковано: (2002) -
Specificity of manufacturing process validation for diagnostic serological devices
за авторством: Yu. Galkin, та інші
Опубліковано: (2018) -
Development of biological farming and implementation of agricultural products' organic manufacturing
за авторством: N. Buha, та інші
Опубліковано: (2014) -
Diagnostics of defectiveness of structural elements, manufactured of metal and composite materials with protective coating, applying method of electron shearography
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2017) -
The Application of Cationic Starches for Paper and Cardboard Products Manufacture
за авторством: L. P. Antonenko, та інші
Опубліковано: (2010)