Зображення обкладинки

The experience of improvement of the thick-film technology

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2002
Автори:	L. I. Panov, R. G. Sidorets
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2002
Назва видання:	Technology and design in electronic equipment
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455303
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Technological features of thick-film electric heating elements
за авторством: Ye. Ya. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2020)

Equilibrium helium film in the thick film limit
за авторством: Klier, J., та інші
Опубліковано: (2003)

Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps
за авторством: Vlaskin, V., та інші
Опубліковано: (2009)

Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017)

Experience in manufacture of thick-walled structures for unique constructions
за авторством: E. Engindeniz, та інші
Опубліковано: (2011)

Influence of germanium sublayers on the structure of gold films with nanometer thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)

Effect of the film thickness on the effective electron-electron interaction in a metal film
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2018)

Quantum-to-Classical Transition of the Charge Transfer in Films of Gold of Nanometer Thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)

Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)

The research of the electrical properties of thick-film electrodes on piezoceramics in special conditions
за авторством: Ja. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2019)

Electroslag technologies for repair of through-thickness cracks
за авторством: S. M. Kozulin, та інші
Опубліковано: (2021)

Thick zirconia films stabilized by oxides of yttrium, scandium, cerium and iron
за авторством: O. Z. Janchevskij, та інші
Опубліковано: (2015)

The mathematic simulation and sowftware of investigation of conductivity of thick-film resistors
за авторством: A. V. Sterkhova, та інші
Опубліковано: (2002)

Low-temperature electrical conduction and thermoelectromotive force of copper films with nanometre thickness
за авторством: Z. V. Stasiuk, та інші
Опубліковано: (2011)

Quasi-Vertical Radar Sensing of Finitely Thick Surfactant Films on the Sea Surface
за авторством: Boev, A. G., та інші
Опубліковано: (2012)

Low-temperature electrical conductivity and thermoelec-tromotive force of gold films of nanometre thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2011)

Adhesion of thick carbon films, produced by electron beam evaporation of carbo
за авторством: Ju. A. Kurapov, та інші
Опубліковано: (2015)

Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)

The influence of a film thickness on a modulated spin structure in terbium manganite
за авторством: I. E. Chupis
Опубліковано: (2020)

Quasi-Classical and Quantum Charge Transfers in Polycrystalline a-Mn Films of Nanometre Thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)

Dependences of thermoelectric properties on the thickness of thin films of indium doped lead telluride
за авторством: S. I. Menshikova, та інші
Опубліковано: (2014)

Technology for T-shaped joint projection welding of thick parts
за авторством: V. S. Kuchuk-Jatsenko, та інші
Опубліковано: (2012)

Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017)

Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017)

Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)

Influence of spattering regimes and spattering system geometry on the thickness and composition of prepared films
за авторством: V. V. Petukhov, та інші
Опубліковано: (2005)

Effects of carbonization of filaments on CVD diamond thick films prepared by HFCVD method
за авторством: Fuming Deng, та інші
Опубліковано: (2020)

Structure and mechanism of electrical conductivity of resistive compositions for thick-film metal-ceramic heating elements
за авторством: Ja. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2019)

Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements
за авторством: V. I. Soroka
Опубліковано: (2015)

Morphology of surface and fine structure of thick carbon films, produced by electron beam evaporation of carbon
за авторством: Ju. A. Kurapov, та інші
Опубліковано: (2017)

Sublinear reverse current-voltage characteristics of thick film structures based on CdTe
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2014)

Growing of thick single-crystalline La-substituted yttrium-iron garnet films with reproducible parameters
за авторством: S. I. Yushchuk, та інші
Опубліковано: (2019)

The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

Metling point lowering of Bi, In, Pb and Sn films embedded in Al matrix with their thickness reduction
за авторством: S. I. Bogatirenko, та інші
Опубліковано: (2003)

Experience of applying design-thinking to improve professional development future teachers of technology and labor training
за авторством: I. S. Holiiad, та інші
Опубліковано: (2021)

Effect of technological schemes of induction surfacing on stability of deposited layer thickness
за авторством: Ch. V. Pulka, та інші
Опубліковано: (2013)

Methods of industrial competitiveness improvement: world experience
за авторством: R. V. Mikhel
Опубліковано: (2017)

Growing of thick single-crystalline La-substituted yttrium-iron gar¬net films with reproducible parameters
за авторством: S. I. Yushchuk, та інші
Опубліковано: (2019)

Improvement of accuracy of Eddy current testing of material electric conductivity and dielectric coating thickness of shells
за авторством: Ya. Teterko, та інші
Опубліковано: (2013)

Thin films of organic molecular crystals (OMC) possessing type B lattice: spatial structure of dibenzotetraazaannulene film is related to its thickness
за авторством: Snopok, B.A., та інші
Опубліковано: (1999)