The mathematic simulation and sowftware of investigation of conductivity of thick-film resistors
Збережено в:
| Дата: | 2002 |
|---|---|
| Автори: | A. V. Sterkhova, V. E. Ljalin |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2002
|
| Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455307 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017)
Telemetering of over small temperature differences by means of the differential resistor thermosensor
за авторством: V. G. Melnik, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. G. Melnik, та інші
Опубліковано: (2014)
Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
METHOD OF DETERMINING THE START TIME OF INDUCTION MOTORS IN THE CONTROL OF RESISTOR-THYRISTOR MODULES
за авторством: Lobov, V. I., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Lobov, V. I., та інші
Опубліковано: (2015)
Low-temperature electrical conduction and thermoelectromotive force of copper films with nanometre thickness
за авторством: Z. V. Stasiuk, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Z. V. Stasiuk, та інші
Опубліковано: (2011)
Characteristics and radiation tolerance of a double-sided microstrip detector with polysilicon biasing resistors
за авторством: de Haas, A.P., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: de Haas, A.P., та інші
Опубліковано: (2000)
Synthesis of thick films of lithium-conducting materials with defect perovskite and NASICON structures by "type casting” method and investigation of their properties
за авторством: S. D. Kobylianska, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. D. Kobylianska, та інші
Опубліковано: (2015)
Low-temperature electrical conductivity and thermoelec-tromotive force of gold films of nanometre thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2011)
Structure and mechanism of electrical conductivity of resistive compositions for thick-film metal-ceramic heating elements
за авторством: Ja. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Ja. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2019)
Equilibrium helium film in the thick film limit
за авторством: Klier, J., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Klier, J., та інші
Опубліковано: (2003)
Software technology for conducting simulation experiments with mathematical models of physiological systems
за авторством: Aksnova, T.V.
Опубліковано: (2018)
за авторством: Aksnova, T.V.
Опубліковано: (2018)
The experience of improvement of the thick-film technology
за авторством: L. I. Panov, та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: L. I. Panov, та інші
Опубліковано: (2002)
Adsorption of ions and thickness dependence of conductivity in liquid crystals
за авторством: O. V. Kovalchuk
Опубліковано: (2011)
за авторством: O. V. Kovalchuk
Опубліковано: (2011)
Adsorption of ions and thickness dependence of conductivity in liquid crystals
за авторством: Kovalchuk, O.V.
Опубліковано: (2011)
за авторством: Kovalchuk, O.V.
Опубліковано: (2011)
Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps
за авторством: Vlaskin, V., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Vlaskin, V., та інші
Опубліковано: (2009)
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
Simulation of Size Dependences of Electrical Conductivity of Ultrathin Gold Films on the Basis of Quantum Dimensional Effect
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)
Effect of the film thickness on the effective electron-electron interaction in a metal film
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2018)
Technological features of thick-film electric heating elements
за авторством: Ye. Ya. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Ye. Ya. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2020)
Influence of germanium sublayers on the structure of gold films with nanometer thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)
Three-dimensional integral mathematical models of the dynamics of thick elastic plates
за авторством: V. A. Stojan
Опубліковано: (2018)
за авторством: V. A. Stojan
Опубліковано: (2018)
Adhesion of thick carbon films, produced by electron beam evaporation of carbo
за авторством: Ju. A. Kurapov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ju. A. Kurapov, та інші
Опубліковано: (2015)
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
Seminar-School “Mathematical Simulation”
за авторством: Berezovsky, A. A., та інші
Опубліковано: (1997)
за авторством: Berezovsky, A. A., та інші
Опубліковано: (1997)
The influence of a film thickness on a modulated spin structure in terbium manganite
за авторством: I. E. Chupis
Опубліковано: (2020)
за авторством: I. E. Chupis
Опубліковано: (2020)
Dependences of thermoelectric properties on the thickness of thin films of indium doped lead telluride
за авторством: S. I. Menshikova, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. I. Menshikova, та інші
Опубліковано: (2014)
Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)
Influence of spattering regimes and spattering system geometry on the thickness and composition of prepared films
за авторством: V. V. Petukhov, та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: V. V. Petukhov, та інші
Опубліковано: (2005)
Physical and mathematical simulation of biological shielding
за авторством: Batiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Batiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2004)
The research of the electrical properties of thick-film electrodes on piezoceramics in special conditions
за авторством: Ja. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Ja. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2019)
Designing of methods for mathematical simulation of the CMM emission
за авторством: T. V. Bunko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: T. V. Bunko, та інші
Опубліковано: (2013)
Quantum-to-Classical Transition of the Charge Transfer in Films of Gold of Nanometer Thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
Thick zirconia films stabilized by oxides of yttrium, scandium, cerium and iron
за авторством: O. Z. Janchevskij, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: O. Z. Janchevskij, та інші
Опубліковано: (2015)
Mathematical and Simulation Modeling of Epidemiology Processes
за авторством: I. T. Kosovych, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: I. T. Kosovych, та інші
Опубліковано: (2022)
Conductivity of the Bi₁₂SiO₂₀ thin films
за авторством: Plyaka, S.N., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Plyaka, S.N., та інші
Опубліковано: (1999)
Quasi-Vertical Radar Sensing of Finitely Thick Surfactant Films on the Sea Surface
за авторством: Boev, A. G., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Boev, A. G., та інші
Опубліковано: (2012)
Mathematical simulation of “Shelter” object releases impacts
за авторством: Batiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Batiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2004)
Improvement of accuracy of Eddy current testing of material electric conductivity and dielectric coating thickness of shells
за авторством: Ya. Teterko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ya. Teterko, та інші
Опубліковано: (2013)
Simulation and investigation of parameters for light beam concentrators
за авторством: Petrov, V. V., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Petrov, V. V., та інші
Опубліковано: (2020)
Paradoxical Propagation of Electromagnetic Waves through Rectangular Evanescent Apertures in Ideally Conducting Screen of Final Thickness
за авторством: Gribovsky, A. V.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Gribovsky, A. V.
Опубліковано: (2012)
Схожі ресурси
-
Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017) -
Telemetering of over small temperature differences by means of the differential resistor thermosensor
за авторством: V. G. Melnik, та інші
Опубліковано: (2014) -
Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013) -
METHOD OF DETERMINING THE START TIME OF INDUCTION MOTORS IN THE CONTROL OF RESISTOR-THYRISTOR MODULES
за авторством: Lobov, V. I., та інші
Опубліковано: (2015) -
Low-temperature electrical conduction and thermoelectromotive force of copper films with nanometre thickness
за авторством: Z. V. Stasiuk, та інші
Опубліковано: (2011)