The mathematic simulation and sowftware of investigation of conductivity of thick-film resistors
Збережено в:
Дата: | 2002 |
---|---|
Автори: | A. V. Sterkhova, V. E. Ljalin |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2002
|
Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455307 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Liquid resistors in accelerators of pulse electron beams
за авторством: Gerasimov, A.I.
Опубліковано: (2006) -
Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017) -
Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013) -
Telemetering of over small temperature differences by means of the differential resistor thermosensor
за авторством: V. G. Melnik, та інші
Опубліковано: (2014) -
Low-temperature electrical conduction and thermoelectromotive force of copper films with nanometre thickness
за авторством: Z. V. Stasiuk, та інші
Опубліковано: (2011)