Unique informativity of the diffuse dynamical combined diffractometry of materials and products of nanotechnologies
Збережено в:
Дата: | 2008 |
---|---|
Автори: | A. P. Shpak, M. V. Kovalchuk, I. M. Karnaukhov, V. V. Molodkin, E. G. Len, A. I. Nizkova, S. I. Olikhovskij, B. V. Sheludchenko, Dzh. E. Ajs, R. I. Barabash |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2008
|
Назва видання: | Progress in Physics of Metals |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000474763 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Integral multiparameter diffractometry of nanosystems on the basis of effects of multiplicity of diffuse scattering
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2009) -
New Performance Capabilities of Integral Dynamical Diffractometry of Crystal Imperfections
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015) -
Basic physics of multiparameter crystallography: diagnostics of defects of several types in single-crystal materials and articles of nanotechnologies
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2011) -
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015) -
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)