Зображення обкладинки

X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2003
Автор:	V. G. Udovitskij
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2003
Назва видання:	Physical surface engineering
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849718
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

The dibenzotetraaza|14|annulene-based compounds and materials: properties and applications
за авторством: V. D. Orlov, та інші
Опубліковано: (2014)

X-RAY luminescence properties of thin organic films
за авторством: L`vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)

Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

The mixed-state Hall conductivity of single-crystal films Nd₂–xCexCuO₄₊δ (x = 0.14)
за авторством: Shelushinina, N.G., та інші
Опубліковано: (2017)

On the Mechanism of X-Ray Amorphous Structure Formation in Ni—W Alloys Films
за авторством: T. A. Tochitskij, та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)

Synthesis and x-ray investigation of nitrocalix[4]quinone
за авторством: Rodik, R., та інші
Опубліковано: (2006)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

The mixed-state Hall conductivity of single-crystal films Nd2–xCexCuO4+δ (x = 0.14)
за авторством: N. G. Shelushinina, та інші
Опубліковано: (2017)

Synthesis and X-ray structural investigation of germanium(IV) nickel(II) hydroxyethylidenediphosphonate
за авторством: E. E. Martsinko, та інші
Опубліковано: (2015)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)

Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)

X-Ray Spectral Examinations of Amorphous Metallic Fe82Si4B14 Alloy
за авторством: Kh. Kasijanenko, та інші
Опубліковано: (2015)

The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)

The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)

Exciton absorption spectrum of thin (KI)₁₋x(PbI₂)x films
за авторством: Yunakova, O.N., та інші
Опубліковано: (2013)

The study of the influence of X-ray irradiation on dislocation characteristics in LiF crystals
за авторством: Petchenko, О.M., та інші
Опубліковано: (2021)

TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)

Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)

Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)

Notes on coherent polarization X-ray radiation by relativistic electrons in a crystal
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2019)

Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)

Manufacturing and investigation of thin-film aluminium-alumina nanostructures
за авторством: T. S. Lebiedieva, та інші
Опубліковано: (2018)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)

Research of the elastic wave velocity dispersion in X-ray-irradiated LiF crystals
за авторством: G. O. Petchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Materials for optical sensors of X-ray irradiation based on (GaxIn1 – x)2Se3 films
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)

Materials for optical sensors of X-ray irradiation based on (GaxIn1 – x)2Se3 films
за авторством: M. M. Pop, та інші
Опубліковано: (2022)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)

Mixed ZnSxSe1–x crystals as a possible material for alpha-particle and X-ray detectors
за авторством: O. G. Trubaieva, та інші
Опубліковано: (2018)

Investigations of surface morphology and chemical composition of Ag/ZnS/glassceramic thin-film structure
за авторством: Kurbatov, D., та інші
Опубліковано: (2008)

Investigation of x-ray emission from high-current discharges of the PF type
за авторством: Skladnik-Sadowska, E., та інші
Опубліковано: (2016)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Frequency of parametric X-ray radiation
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2023)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)