X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автор: | V. G. Udovitskij |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2003
|
| Назва видання: | Physical surface engineering |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849718 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Crystalline structure and polymorphism in powders and thin films of dibenzotetraaza[14]annulene
за авторством: Udovitskiy, V.G.
Опубліковано: (2016)
за авторством: Udovitskiy, V.G.
Опубліковано: (2016)
The dibenzotetraaza|14|annulene-based compounds and materials: properties and applications
за авторством: V. D. Orlov, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. D. Orlov, та інші
Опубліковано: (2014)
Ohmic and space-sнarge limited conductivity іn dihydrodibenzotetraaza[14]annulene thin films
за авторством: Udovitskiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Udovitskiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2017)
X-RAY luminescence properties of thin organic films
за авторством: L`vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: L`vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)
Peculiarities of fluorescence of thin organic films in the field of soft X-ray radiation
за авторством: L’vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: L’vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)
Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
X-ray investigations of phase transition in Bi₂TeO₅ single crystals
за авторством: Domoratsky, K.V., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Domoratsky, K.V., та інші
Опубліковано: (1999)
Тhe investigation of X-rays irradiation effect on the mobility of dislocations in LiF crystals
за авторством: Petchenko, О.M., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Petchenko, О.M., та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
The mixed-state Hall conductivity of single-crystal films Nd₂–xCexCuO₄₊δ (x = 0.14)
за авторством: Shelushinina, N.G., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Shelushinina, N.G., та інші
Опубліковано: (2017)
On the Mechanism of X-Ray Amorphous Structure Formation in Ni—W Alloys Films
за авторством: T. A. Tochitskij, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: T. A. Tochitskij, та інші
Опубліковано: (2013)
The influence of X-ray irradiation on dynamical and structural characteristics of strained NaCl crystals
за авторством: Petchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Petchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2020)
Synthesis and X-ray structural investigation of germanium(IV) nickel(II) hydroxyethylidenediphosphonate
за авторством: E. E. Martsinko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. E. Martsinko, та інші
Опубліковано: (2015)
Synthesis and x-ray investigation of nitrocalix[4]quinone
за авторством: Rodik, R., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Rodik, R., та інші
Опубліковано: (2006)
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)
The mixed-state Hall conductivity of single-crystal films Nd2–xCexCuO4+δ (x = 0.14)
за авторством: N. G. Shelushinina, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: N. G. Shelushinina, та інші
Опубліковано: (2017)
Investigation of thin films deposition into porous material
за авторством: Sedláková, L., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Sedláková, L., та інші
Опубліковано: (2006)
The influence of X-ray irradiation on elastic, dynamical and structural characteristics of strained LiF crystals
за авторством: Petchenko, О.M., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Petchenko, О.M., та інші
Опубліковано: (2018)
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
Investigation of damaged layer formed at mechanical treatment of sapphire using three-crystal X-ray diffraction method
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2014)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
Manufacturing and investigation of thin-film aluminium-alumina nanostructures
за авторством: T. S. Lebiedieva, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: T. S. Lebiedieva, та інші
Опубліковано: (2018)
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)
Investigations of surface morphology and chemical composition of Ag/ZnS/glassceramic thin-film structure
за авторством: Kurbatov, D., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kurbatov, D., та інші
Опубліковано: (2008)
Exciton absorption spectrum of thin (KI)₁₋x(PbI₂)x films
за авторством: Yunakova, O.N., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Yunakova, O.N., та інші
Опубліковано: (2013)
Investigation of the growth mechanism, structure, and thermoelectric properties of thin PbTe films grown on mica
за авторством: Rogacheva, E.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Rogacheva, E.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
за авторством: Claudio, D., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Claudio, D., та інші
Опубліковано: (2005)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
Detectors and instruments for detection of X-ray radiation on the basis of zinc selenide crystals
за авторством: Ryzhikov, V.D., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ryzhikov, V.D., та інші
Опубліковано: (2015)
Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)
Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B₅₂, by powder X-ray diffraction
за авторством: Kurakevych, O.O., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Kurakevych, O.O., та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray photoelectron spectra and electronic structure of quasi-one-dimensional SbSeI crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2007)
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)
Схожі ресурси
-
Crystalline structure and polymorphism in powders and thin films of dibenzotetraaza[14]annulene
за авторством: Udovitskiy, V.G.
Опубліковано: (2016) -
The dibenzotetraaza|14|annulene-based compounds and materials: properties and applications
за авторством: V. D. Orlov, та інші
Опубліковано: (2014) -
Ohmic and space-sнarge limited conductivity іn dihydrodibenzotetraaza[14]annulene thin films
за авторством: Udovitskiy, V.G., та інші
Опубліковано: (2017) -
X-RAY luminescence properties of thin organic films
за авторством: L`vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2003) -
Peculiarities of fluorescence of thin organic films in the field of soft X-ray radiation
за авторством: L’vov, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)