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Metling point lowering of Bi, In, Pb and Sn films embedded in Al matrix with their thickness reduction

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2003
Hauptverfasser:	S. I. Bogatirenko, N. T. Gladkikh, A. P. Krishtal
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2003
Schriftenreihe:	Physical surface engineering
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849885
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