Effect of pressure on the electrophysical properties of the interface layer of heterocontacts based on layered crystals
Збережено в:
Дата: | 2008 |
---|---|
Автор: | M. O. Vorobets |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2008
|
Назва видання: | Physical surface engineering |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872885 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Effective Elastic Properties of Layered Composite Materials with Defects on Interface Boundary
за авторством: L. P. Khoroshun
Опубліковано: (2019) -
Effect of buffer layer of porous silicon carbide on the interface with the oxide layer (review)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2012) -
Excessive Pressure in the Subsurface Layer in a Crystal
за авторством: Karasevskii, A.I., та інші
Опубліковано: (2015) -
Excessive Pressure in the Subsurface Layer in a Crystal
за авторством: A. I. Karasevskii, та інші
Опубліковано: (2015) -
Structural and energy changes at the cleavage surfaces of In₄Se₃ layered crystals under interface formation
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2008)