Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | M. V. Reshetnjak, O. V. Sobol |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2008
|
| Schriftenreihe: | Physical surface engineering |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890 |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
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