The influence of cyclic deformations on the elektrophysical characteristics of polycrystalline thin films (Bi0,3Sb0,7)2Te3
Збережено в:
Дата: | 2009 |
---|---|
Автори: | Sh. D. Sultonov, Kh. Juldashev |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2009
|
Назва видання: | Physical surface engineering |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872954 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
The role of internal mechanical pressures in formation of deformation characteristics polycrystalline thin films r-(Bi0,5Sb0,5)2Te3
за авторством: Sh. D. Sultonov, та інші
Опубліковано: (2009) -
Влияние циклических деформаций на электрофизические характеристики поликристаллических пленок (Bi0,3Sb0,7)2Te3
за авторством: Султонов, Ш.Д., та інші
Опубліковано: (2009) -
Features of phase transitions in nanosized powders KTa0.7Nb0.3O3
за авторством: I. S. Golovina, та інші
Опубліковано: (2012) -
Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021) -
Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021)